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微波電路 電調(diào)衰減器測(cè)試方法

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):GB/T 42744-2023 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行
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標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
本文件描述了微波電路類(lèi)的電調(diào)衰減器主要電參數(shù)的測(cè)試方法。本文件適用于單片和混合集成的微波電調(diào)衰減器的相關(guān)電參數(shù)測(cè)試。
英文名稱(chēng):  Microwave circuit—Measuring methods for electrically controlled attenuator
什么是中標(biāo)分類(lèi)? 中標(biāo)分類(lèi):  電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L56半導(dǎo)體集成電路
什么是ICS分類(lèi)?  ICS分類(lèi):  電子學(xué)>>31.200集成電路、微電子學(xué)
發(fā)布部門(mén):  國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
發(fā)布日期:  2023-08-06
實(shí)施日期:  2024-03-01
提出單位:  中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部
什么是歸口單位? 歸口單位:  全國(guó)半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 78)
起草單位:  成都亞光電子股份有限公司、安徽明洋電子有限公司、安徽省中智科標(biāo)準(zhǔn)化研究院有限公司、空軍裝備部駐成都地區(qū)軍事代表局、中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院
起草人:  隆慧、楊曉瑜、劉影影、陳敏、湯朔、周俊、孟澤、何亞平、范富宏、劉峋、王昊、付江蔚、侯林
頁(yè)數(shù):  24頁(yè)
出版社:  中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
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