| 標準編號 |
標準名稱 |
發(fā)布部門 |
實施日期 |
狀態(tài) |
| GB/T 17574.11-2006 |
半導體器件 集成電路 第2-11部分：數(shù)字集成電路 單電源集成電路電可擦可編程只讀存儲器 空白詳細規(guī)范 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2007-05-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 17574.20-2006 |
半導體器件 集成電路 第2-20部分：數(shù)字集成電路 低壓集成電路族規(guī)范 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2007-05-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 17574.9-2006 |
半導體器件 集成電路 第2-9部分：數(shù)字集成電路紫外光擦除電可編程MOS只讀存儲器空白詳細規(guī)范 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2007-05-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 17864-1999 |
關鍵尺寸（CD）計量方法 |
國家質(zhì)量技術監(jiān)督局
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2000-06-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 17865-1999 |
焦深與最佳聚焦的測量規(guī)范 |
國家質(zhì)量技術監(jiān)督局
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2000-06-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 17866-1999 |
掩模缺陷檢查系統(tǒng)靈敏度分析所用的特制缺陷掩模和評估測量方法準則 |
國家質(zhì)量技術監(jiān)督局
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2000-06-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 17940-2000 |
半導體器件 集成電路 第3部分：模擬集成電路 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2000-08-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 18500.1-2001 |
半導體器件 集成電路 第4部分：接口集成電路 第一篇：線性數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器(DAC)空白詳細規(guī)范 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2002-06-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 18500.2-2001 |
半導體器件 集成電路 第4部分：接口集成電路 第二篇：線性模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器（ADC）空白詳細規(guī)范 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2002-06-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 19403.1-2003 |
半導體器件 集成電路 第11部分：第1篇：半導體集成電路 內(nèi)部目檢 （不包括混合電路） |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2004-08-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 20296-2006 |
集成電路記憶法與符號 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2007-01-01 |
作廢 |
| GB/T 20515-2006 |
半導體器件 集成電路 第5部分：半定制集成電路 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2007-02-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 20870.10-2023 |
半導體器件 第16-10部分：單片微波集成電路技術可接收程序 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2024-01-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 20870.2-2023 |
半導體器件 第16-2部分：微波集成電路 預分頻器 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2023-09-07 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 20870.4-2024 |
半導體器件 第16-4部分：微波集成電路 開關 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2024-10-26 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 20870.5-2023 |
半導體器件 第16-5部分：微波集成電路 振蕩器 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2024-01-01 |
現(xiàn)行 |
| GB 3430-1989 |
半導體集成電路型號命名方法 |
機械電子工業(yè)部
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1990-04-01 |
廢止 |
| GB 3431.1-1982 |
半導體集成電路文字符號 電參數(shù)文字符號 |
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1983-10-01 |
作廢 |
| GB 3431.2-1986 |
半導體集成電路文字符號 引出端功能符號 |
國家標準局
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1987-04-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 3432.1-1989 |
半導體集成電路TTL電路系列和品種 54/74系列的品種 |
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1990-04-01 |
作廢 |
| GB/T 3432.2-1989 |
半導體集成電路TTL電路系列和品種 54/74H系列的品種 |
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1990-04-01 |
作廢 |
| GB/T 3432.3-1989 |
半導體集成電路TTL電路系列和品種 54/74S系列的品種 |
|
1990-04-01 |
作廢 |
| GB/T 3432.4-1989 |
半導體集成電路TTL電路系列和品種 54/74LS系列的品種 |
信息產(chǎn)業(yè)部（電子）
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1990-04-01 |
作廢 |
| GB 3433-1982 |
半導體集成電路HTL電路系列和品種 |
國家標準局
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1983-10-01 |
作廢 |
| GB/T 3434-1986 |
半導體集成電路ECL電路系列和品種 |
國家標準局
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1986-01-02 |
作廢 |
| GB/T 3435-1987 |
半導體集成CMOS電路系列和品種 4000系列的品種 |
國家標準局
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1987-08-01 |
作廢 |
| GB 3436-1986 |
半導體集成電路運算放大器系列和品種 |
|
1987-08-01 |
作廢 |
| GB/T 3436-1996 |
半導體集成電路運算放大器系列和品種 |
國家技術監(jiān)督局
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1997-01-01 |
現(xiàn)行 |
| GB 3437-1982 |
半導體集成電路MOS存儲器系列和品種 |
國家標準局
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1983-10-01 |
作廢 |
| GB 3438-1982 |
半導體集成電路雙極型存儲器系列和品種 |
國家標準局
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1983-10-01 |
作廢 |
| GB 3439-1982 |
半導體集成電路TTL電路測試方法的基本原理 |
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1983-10-01 |
作廢 |
| GB 3440-1982 |
半導體集成電路HTL電路測試方法的基本原理 |
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1983-10-01 |
作廢 |
| GB 3441-1982 |
半導體集成電路ECL電路測試方法的基本原理 |
|
1983-10-01 |
作廢 |
| GB 3442-1986 |
半導體集成電路運算(電壓)放大器測試方法的基本原理 |
|
1987-07-01 |
作廢 |
| GB 3443-1982 |
半導體集成電路MOS隨機存儲器測試方法的基本原理 |
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1983-10-01 |
作廢 |
| GB 3444-1982 |
半導體集成電路雙極型隨機存儲器測試方法的基本原理 |
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1983-10-01 |
作廢 |
| GB/T 35003-2018 |
非易失性存儲器耐久和數(shù)據(jù)保持試驗方法 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2018-08-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 35004-2018 |
數(shù)字集成電路 輸入/輸出電氣接口模型規(guī)范 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2018-08-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 35006-2018 |
半導體集成電路 電平轉(zhuǎn)換器測試方法 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2018-08-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 35007-2018 |
半導體集成電路 低電壓差分信號電路測試方法 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2018-08-01 |
現(xiàn)行 |