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| 英文名稱： |
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of Holzer circuit |
 中標(biāo)分類： |
電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L56半導(dǎo)體集成電路 |
| ICS分類： |
電子學(xué)>>31.200集成電路、微電子學(xué) |
| 發(fā)布部門： |
國家市場監(jiān)督管理總局 國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì) |
| 發(fā)布日期： |
2023-08-06 |
| 實(shí)施日期： |
2023-12-01
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| 提出單位： |
中華人民共和國工業(yè)和信息化部 |
| 歸口單位： |
全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 78) |
| 起草單位： |
中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院、南京中旭電子科技有限公司、合肥美菱物聯(lián)科技有限公司、北京微電子技術(shù)研究所、東莞市國夢電機(jī)有限公司 |
| 起草人： |
尹航、劉芳、何萬海、唐食明、張帆、劉德廣 |
| 頁數(shù)： |
16頁 |
| 出版社： |
中國標(biāo)準(zhǔn)出版社 |