| 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) |
標(biāo)準(zhǔn)名稱 |
發(fā)布部門 |
實(shí)施日期 |
狀態(tài) |
| T/TMCA 128-2025 |
集成母排(CCS)電氣性能測(cè)試方法 |
中國(guó)技術(shù)市場(chǎng)協(xié)會(huì)
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2025-03-03 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 33657-2017 |
納米技術(shù) 晶圓級(jí)納米尺度相變存儲(chǔ)單元電學(xué)操作參數(shù)測(cè)試規(guī)范 |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2017-12-01 |
現(xiàn)行 |
| DB31/ 792-2014 |
硅單晶及其硅片單位產(chǎn)品能源消耗限額 |
上海市質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
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2014-08-01 |
作廢 |
| DB44/T 1905-2016 |
超高頻射頻識(shí)別(RFID)芯片測(cè)試方法 |
廣東省質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
|
2016-12-29 |
作廢 |
| GA/T 1171-2014 |
芯片相似性比對(duì)檢驗(yàn)方法 |
公安部
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2014-07-09 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 11497.1-1989 |
半導(dǎo)體集成電路CMOS電路系列和品種 54/74HC系列的品種 |
信息產(chǎn)業(yè)部(電子)
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1990-04-01 |
作廢 |
| GB/T 11497.2-1989 |
半導(dǎo)體集成電路CMOS電路系列和品種 54/74HCT系列的品種 |
信息產(chǎn)業(yè)部(電子)
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1990-04-01 |
作廢 |
| GB 11498-1989 |
膜集成電路和混合膜集成電路分規(guī)范(采用鑒定批準(zhǔn)程序)(可供認(rèn)證用) |
機(jī)械電子工業(yè)部
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1990-04-01 |
作廢 |
| GB/T 11498-2018 |
半導(dǎo)體器件 集成電路 第21部分:膜集成電路和混合膜集成電路分規(guī)范(采用鑒定批準(zhǔn)程序)半導(dǎo)體器件 集成電路 第21部分:膜集成電路和混合膜集成電路分規(guī)范(采用鑒定批準(zhǔn)程序) |
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局.
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2019-07-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 12084-1989 |
半導(dǎo)體集成電路TTL電路系列和品種 54/74F系列的品種 |
國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
|
1990-07-01 |
作廢 |
| GB/T 12750-1991 |
半導(dǎo)體集成電路分規(guī)范 (不包括混合電路) (可供認(rèn)證用) |
國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
|
1991-01-01 |
作廢 |
| GB/T 12750-2006 |
半導(dǎo)體器件 集成電路 第11部分:半導(dǎo)體集成電路分規(guī)范(不包括混合電路) |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
|
2007-02-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 12842-1991 |
膜集成電路和混和膜集成電路術(shù)語(yǔ) |
國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
|
1991-01-02 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 12843-1991 |
半導(dǎo)體集成電路 微處理器及外圍接口電路電參數(shù)測(cè)試方法的基本原理 |
國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
|
1991-01-02 |
作廢 |
| GB/T 12844-1991 |
半導(dǎo)體集成電路非線性電路系列和品種采樣/保持放大器的品種 |
國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
|
1991-01-02 |
作廢 |
| GB/T 12845-1991 |
半導(dǎo)體集成電路非線性電路系列和品種 電壓頻率和頻率/電壓轉(zhuǎn)換器的品種 |
國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
|
1991-01-02 |
作廢 |
| GB/T 13062-1991 |
膜集成電路和混合膜集成電路空白詳細(xì)規(guī)范 (采用鑒定批準(zhǔn)程序) |
國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
|
1992-03-01 |
作廢 |
| GB/T 13062-2018 |
半導(dǎo)體器件 集成電路 第21-1部分:膜集成電路和混合膜集成電路空白詳細(xì)規(guī)范(采用鑒定批準(zhǔn)程序) |
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局.
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2019-07-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 13064-1991 |
半導(dǎo)體集成電路系列和品種復(fù)印機(jī)用系列的品種 |
國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
|
1992-03-01 |
作廢 |
| GB/T 13067-1991 |
半導(dǎo)體集成電路系列和品種石英電子鐘表用系列的品種 |
國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
|
1992-03-01 |
作廢 |
| GB/T 13068-1991 |
半導(dǎo)體集成電路系列和品種 磁敏傳感器用系列的品種 |
國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
|
1992-03-01 |
作廢 |
| GB/T 13069-1991 |
半導(dǎo)體集成電路系列和品種 數(shù)控機(jī)床用系列的品種 |
國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
|
1992-03-01 |
作廢 |
| GB/T 14024-1992 |
內(nèi)燃機(jī)電站無(wú)線電干擾特性的測(cè)量方法及允許值 傳導(dǎo)干擾 |
國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
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1993-08-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 14025-1992 |
半導(dǎo)體集成電路門陣列電路系列和品種ECL系列的品種 |
國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
|
1993-08-01 |
作廢 |
| GB/T 14026-1992 |
半導(dǎo)體集成電路微型計(jì)算機(jī)電路系列和品種80C86系列的品種 |
國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
|
1993-08-01 |
作廢 |
| GB/T 14027.1-1992 |
半導(dǎo)體集成電路通信電路系列和品種 有源濾波器系列品種 |
信息產(chǎn)業(yè)部(電子)
|
1993-08-01 |
作廢 |
| GB/T 14027.2-1992 |
半導(dǎo)體集成電路通信電路系列和品種 脈碼調(diào)制編譯碼器系列品種 |
信息產(chǎn)業(yè)部(電子)
|
1993-08-01 |
作廢 |
| GB/T 14027.3-1992 |
半導(dǎo)體集成電路通信電路系列和品種 模擬開(kāi)關(guān)陣列系列品種 |
信息產(chǎn)業(yè)部(電子)
|
1993-08-01 |
作廢 |
| GB/T 14027.4-1992 |
半導(dǎo)體集成電路通信電路系列和品種 雙音多頻電路系列品種 |
信息產(chǎn)業(yè)部(電子)
|
1993-08-01 |
作廢 |
| GB/T 14027.5-1992 |
半導(dǎo)體集成電路通信電路系列和品種 電話電路系列品種 |
信息產(chǎn)業(yè)部(電子)
|
1993-08-01 |
作廢 |
| GB/T 14027.6-1992 |
半導(dǎo)體集成電路通信電路系列和品種 頻率合成器系列品種 |
信息產(chǎn)業(yè)部(電子)
|
1993-08-01 |
作廢 |
| GB/T 14027.7-1992 |
半導(dǎo)體集成電路通信電路系列和品種 數(shù)字交換系統(tǒng)接口電路系列品種 |
信息產(chǎn)業(yè)部(電子)
|
1993-08-01 |
作廢 |
| GB/T 14028-1992 |
半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān)測(cè)試方法的基本原理 |
國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
|
1993-08-01 |
作廢 |
| GB/T 14028-2018 |
半導(dǎo)體集成電路 模擬開(kāi)關(guān)測(cè)試方法 |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2018-08-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 14029-1992 |
半導(dǎo)體集成電路模擬乘法器測(cè)試方法的基本原理 |
國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
|
1993-08-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 14030-1992 |
半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路測(cè)試方法的基本原理 |
國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
|
1993-08-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 14031-1992 |
半導(dǎo)體集成電路模擬鎖相環(huán)測(cè)試方法的基本原理 |
國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
|
1993-08-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 14032-1992 |
半導(dǎo)體集成電路數(shù)字鎖相環(huán)測(cè)試方法的基本原理 |
國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
|
1993-08-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 14112-1993 |
半導(dǎo)體集成電路 塑料雙列封裝沖制型引線框架規(guī)范 |
國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
|
1993-08-01 |
作廢 |
| GB/T 14112-2015 |
半導(dǎo)體集成電路 塑料雙列封裝沖制型引線框架規(guī)范 |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2016-01-01 |
現(xiàn)行 |