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集成電路 電磁抗擾度測量 第5部分:工作臺(tái)法拉第籠法

國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):GB/T 42968.5-2025 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行
標(biāo)準(zhǔn)價(jià)格:50.0 客戶評(píng)分:星星星星1
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標(biāo)準(zhǔn)簡介
本文件描述了一種用于量化安裝在標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)板或其最終應(yīng)用的印制電路板(PCB)上的集成電路(IC)對(duì)電磁傳導(dǎo)騷擾的射頻抗擾度測量方法。
本文件適用于在物理尺寸小的試驗(yàn)板上使用的能執(zhí)行“獨(dú)立”功能的IC。
英文名稱:  Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 5:Workbench Faraday cage method
什么是中標(biāo)分類? 中標(biāo)分類:  電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L56半導(dǎo)體集成電路
什么是ICS分類?  ICS分類:  電子學(xué)>>31.200集成電路、微電子學(xué)
發(fā)布部門:  國家市場監(jiān)督管理總局 國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
發(fā)布日期:  2025-12-02
實(shí)施日期:  2025-12-02
提出單位:  中華人民共和國工業(yè)和信息化部
什么是歸口單位? 歸口單位:  全國集成電路標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 599)
起草單位:  中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院、天津先進(jìn)技術(shù)研究院、北京智芯微電子科技有限公司、工業(yè)和信息化部電子第五研究所、廈門海諾達(dá)科學(xué)儀器有限公司、中山大學(xué)、廣州市誠臻電子科技有限公司、華東師范大學(xué)、北京國家新能源汽車技術(shù)創(chuàng)新中心有限公司等
起草人:  崔強(qiáng)、孫美秋、廉鵬飛、吳建飛、方文嘯、邵鄂、付君、趙揚(yáng)、梁吉明、李楠、李齊、譚澤強(qiáng)、菅端端、王紫任、張紅升、李燕、孫莉、劉佳、鄭曉東、熊偉杰、劉易勇、鄭上上、李子秋
頁數(shù):  24頁
出版社:  中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
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