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微機電系統(tǒng)(MEMS)技術(shù) 硅基MEMS納米厚度膜抗拉強度試驗方法

國家標準
標準編號:GB/T 42897-2023 標準狀態(tài):現(xiàn)行
標準價格:36.0 客戶評分:星星星星1
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標準簡介
本文件描述了硅基MEMS加工過程中所涉及的納米厚度膜軸向抗拉強度原位試驗的要求和試驗方法。
本文件適用于采用微電子工藝制造的納米厚度膜抗拉強度測試。
英文名稱:  Micro-electromechanical systems(MEMS) technology—Tensile strength test method for nano-scale membranes of silicon based MEMS
什么是中標分類? 中標分類:  電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L59微型組件
什么是ICS分類?  ICS分類:  電子學(xué)>>31.200集成電路、微電子學(xué)
發(fā)布部門:  國家市場監(jiān)督管理總局 國家標準化管理委員會
發(fā)布日期:  2023-08-06
實施日期:  2023-12-01
提出單位:  全國微機電技術(shù)標準化技術(shù)委員會(SAC/TC 336)
什么是歸口單位? 歸口單位:  全國微機電技術(shù)標準化技術(shù)委員會(SAC/TC 336)
起草單位:  北京大學(xué)、中機生產(chǎn)力促進中心有限公司、中國電子技術(shù)標準化研究院、北京燕東微電子科技有限公司、廈門市智慧健康研究院有限公司、寧波瑞成包裝材料有限公司、四川富生電器有限責任公司、深圳市美思先端電子有限公司、無錫韋感半導(dǎo)體有限公司、廣州奧松電子股份有限公司等
起草人:  張大成、楊芳、李根梓、顧楓、劉鵬、李鳳陽、王旭峰、高程武、陳藝、于志恒、華璇卿、劉若冰、張彥秀、王清娜、邵崢、李強、宏宇、趙成龍、張賓、李海全
頁數(shù):  16頁
出版社:  中國標準出版社
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