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| 英文名稱： |
Integrated circuit—Test method for CMOS image sensors |
 中標(biāo)分類： |
電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L55微電路綜合 |
| ICS分類： |
電子學(xué)>>31.200集成電路、微電子學(xué) |
| 發(fā)布部門： |
國家市場監(jiān)督管理總局 國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會 |
| 發(fā)布日期： |
2023-09-07 |
| 實施日期： |
2024-01-01
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| 提出單位： |
中華人民共和國工業(yè)和信息化部 |
| 歸口單位： |
中華人民共和國工業(yè)和信息化部 |
| 起草單位： |
中國科學(xué)院長春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所、重慶光電技術(shù)研究所、天津大學(xué)、長春精測光電技術(shù)有限公司、中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院、深圳佑駕創(chuàng)新科技有限公司 |
| 起草人： |
李俊霖、張濤、蘭太吉、楊永強(qiáng)、趙宇、聶真威、韓冰、金輝、馬洪濤、盧巖、徐江濤、劉昌舉、唐延甫、聶凱明、李金、高志遠(yuǎn)、馬悅、劉國清、王琪、劉秀娟 |
| 頁數(shù)： |
36頁 |
| 出版社： |
中國標(biāo)準(zhǔn)出版社 |