|
序號 |
國際標(biāo)準(zhǔn)號 |
采標(biāo)國標(biāo)號 |
國家標(biāo)準(zhǔn)名稱 |
采標(biāo)程度 |
IEC修訂計劃 |
|
1 |
60068-1-1988 |
2421-1999 |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗 第1部分 總則 |
IDT |
2006 |
|
2 |
60068-2-1-1990 |
2423.1-2001 |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗 第2部分 試驗A-低溫試驗方法 |
IDT |
2005 |
|
3 |
60068-2-2-1974 |
2423.2-2001 |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗 第2部分 試驗B-高溫試驗方法 |
IDT |
2007 |
|
4 |
60068-2-5-1975 |
2423.24-1995 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Sa-模擬地面上的太陽輻射 |
IDT |
與60068-2-9合并
2006 |
|
5 |
60068-2-6-1995 |
2423.10-1995 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗方法試驗Fc和導(dǎo)則 振動（正弦） |
IDT |
2007 |
|
6 |
60068-2-7-1983 |
2423.15-1995 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Ca和導(dǎo)則-穩(wěn)態(tài)加速度 |
IDT |
2010 |
|
7 |
60068-2-9-1975 |
2424.14-1995 |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 太陽輻射試驗導(dǎo)則 |
IDT |
合并到 60068-2-5
2006 |
|
8 |
60068-2-10-2005 |
2423.16-199 |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗試驗J-長霉試驗長霉試驗導(dǎo)則 |
IDT |
2015 |
|
9 |
60068-2-11-1981 |
2423.17-1993 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗Ka；鹽霧試驗方法 |
eqv |
Corr.1 1999
2012 |
|
10 |
60068-2-13-1983 |
2423.21-1991 |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M-低氣壓試驗方法 |
neq |
2010 |
|
11 |
60068-2-14-1984 |
2423.22-2002 |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗N-溫度變化試驗方法 |
eqv |
2008 |
|
12 |
60068-2-17-1994 |
2423.23-1995 |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Q-密封試驗方法 |
IDT |
2010 |
|
13 |
60068-2-18-2000 |
2423.38-200X |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗R-水試驗 |
IDT |
2004報批
2006 |
|
14 |
60068-2-27-1987 |
2423.5-1995 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Ea-沖擊試驗方法 |
IDT |
合并
2007 |
|
15 |
60068-2-29-1987 |
2423.6-1995 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Eb和導(dǎo)則-碰撞 |
IDT |
|
16 |
60068-2-30-2005 |
2423.4-1993 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Db-交變濕熱試驗 |
eqv |
2012 |
|
17 |
6068-2-31-1969 |
2423.7-1995 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Ec-傾跌與翻倒和導(dǎo)則 |
IDT |
合并
2007
|
|
18 |
60068-2-32-1990 |
2423.8-1995 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Ed-自由跌落試驗方法 |
IDT |
|
19 |
60068-2-33-1971 |
2424.13-2002 |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 溫度變化試驗導(dǎo)則 |
IDT |
2008 |
|
20 |
60068-2-38-1974 |
2423.34-200X |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AD-溫度/濕度組合循環(huán)試驗方法 |
IDT |
2003年報批
2008 |
|
21 |
60068-2-39-1976 |
2423.27-200X |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A/ZMD-低溫、低氣壓、濕熱連續(xù)綜合試驗方法 |
IDT |
2003年報批
2012 |
|
22 |
60068-2-40-1976 |
2423.25-92 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Z/AM-低溫、低氣壓綜合試驗方法 |
neq |
2012 |
|
23 |
60068-2-41-1976 |
2423.26-92 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗
試驗Z/BM-干熱/低氣壓綜合試驗方法 |
neq |
2012 |
|
24 |
60068-2-45:1993 |
2423.30-1999 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗 試驗XA和導(dǎo)則 在清洗劑中浸劑 |
IDT |
2009 |
|
25 |
60068-2-47-2005 |
2423.43-1995 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分 試驗方法 元件設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊（Ea）、碰撞（Eb）、振動（Fc和Fd）和穩(wěn)態(tài)加速度（Ga）等的動力試驗的安裝要求導(dǎo)則 |
IDT |
2014 |
|
26 |
60068-2-48-1982 |
2424.19-2005 |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 模擬貯存影響的環(huán)境試驗導(dǎo)則 |
IDT |
2007 |
|
27 |
60068-2-50-1983 |
2423.35-200X |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/Afc-散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動（正弦）綜合試驗 |
IDT |
2003報批
2007 |
|
28 |
60068-2-51-1983 |
2423.36-200X |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BFc-散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動（正弦）綜合試驗 |
IDT |
2003報批
2007 |
|
29 |
60068-2-52-1996 |
2423.18-2000 |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗 Kb-交變鹽霧試驗方法 |
IDT |
2009 |
|
30 |
60068-2-53-1984 |
2424.22-86 |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 溫度和振動（正弦）綜合試驗導(dǎo)則 |
IDT |
2007 |
|
31 |
60068-2-55-1987 |
2423.39-1990 |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ee-彈跳試驗方法 |
eqv |
2010 |
|
32 |
60068-2-57-1999 |
2423.48-1997 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Ff-振動-時間歷程法 |
IDT |
2006 |
|
33 |
60068-2-59-1990 |
2423.49-1997 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Fe-振動-正弦拍頻法 |
IDT |
2010 |
|
34 |
60068-2-60-1995 |
2423.51-2000 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分 試驗方法 試驗Ke-流動混合氣體腐蝕試驗 |
IDT |
2011 |
|
35 |
60068-2-61-1991 |
2423.45-1997 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Z/ABDM 氣候順序 |
IDT |
2010 |
|
36 |
60068-2-64 |
|
|
|
代替 2-34、35、36、37 2004年報批
2007 |
|
37 |
60068-2-65-1993 |
2423.47-1997 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Fg-聲振 |
IDT |
2007 |
|
38 |
60068-2-66-1994 |
2423.40-1997 |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Cx-未飽和高壓蒸氣恒定濕熱 |
IDT |
2011 |
|
39 |
60068-2-67-1996 |
2423.50-1999 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Cy-穩(wěn)態(tài)濕熱 主要用于元件的加速試驗 |
IDT |
2011 |
|
40 |
60068-2-68-1994 |
2423 37-200X |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗L-沙塵試驗 |
IDT |
2006年報批
2010 |
|
41 |
60068-2-70-1995 |
2423 53-2005 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分-試驗方法 試驗Xb：由手的摩擦造成的標(biāo)記和印刷文字的磨損 |
IDT |
2011 |
|
42 |
60068-2-74-1999 |
2423.54-2005 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分-試驗方法 試驗Xc：流體污染 |
IDT |
2012 |
|
43 |
60068-2-75-1997 |
2423 XX-200X |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分-試驗方法 環(huán)境測試錘擊試驗 |
|
2003年報批
2010 |
|
44 |
60068-2-77:1999 |
2423 .52-2003 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分-試驗方法 結(jié)構(gòu)強(qiáng)度和沖擊 |
|
|
|
45 |
60068-2-78-2001 |
|
|
|
2006報批
2012 |
|
46 |
60068-2-80-2005 |
|
|
|
2015 |
|
47 |
60068-2-81-2003 |
|
|
|
2010 |
|
48 |
60068-3-1-1974
60068-3-1A-1974 |
2424.1-2005 |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則 |
IDT |
2008 |
|
49 |
60068-3-2-1976 |
2424.15-92 |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 溫度/低氣壓綜合試驗導(dǎo)則 |
eqv |
2012 |
|
50 |
60068-3-3-1991 |
2424.25-2000 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第3部分-試驗導(dǎo)則 地震試驗方法 |
eqv |
2008 |
|
51 |
60068-3-4-2001 |
2424.2-200X |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗規(guī)程 濕熱試驗導(dǎo)則 |
|
2004年報批
2010 |
|
52 |
60068-3-5-2001 |
2424.5-200X |
|
|
2005年報批
2010 |
|
53 |
60068-3-6-2001 |
2424.6-200X |
|
|
2005年報批
2010 |
|
54 |
60068-3-7-2001 |
2424.7-200X |
|
|
2005年報批
2010 |
|
55 |
60068-3-8-2003 |
|
|
|
2007 |
|
56 |
60068-4-1987 |
|
|
|
2006 |
|
57 |
60068-5-2-1990 |
2422-1995 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 術(shù)語 |
eqv |
2008 |
|
58 |
TR 60355-1971 |
2424.10-1993 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗大氣腐蝕加速試驗通用導(dǎo)則 |
eqv |
2005 |
|
59 |
60721-1-2002 |
4796-2001 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)分類及其嚴(yán)酷程度分級 |
IDT |
2010 |
|
60 |
60721-2-1-2002 |
4797.1-2005 |
電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 溫度和濕度 |
MOD |
2007 |
|
61 |
60721-2-2-1988 |
4797.5-1992 |
電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 降水和風(fēng) |
neq |
2007 |
|
62 |
60721-2-3-1987 |
4797.2-200X |
電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 海拔與氣壓 水深與水壓 |
MOD |
2003報批
2007 |
|
63 |
60721-2-4-2002 |
4797.4-200X |
電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 太陽輻射與溫度 |
IDT |
2006年報批
2010 |
|
64 |
60721-2-5-1991 |
4797.6-1995 |
電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件塵、砂、鹽霧 |
neq |
2012 |
|
65 |
60721-2-6-1990 |
|
|
|
2007 |
|
66 |
60721-2-7-1987 |
4797.3-1986 |
電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 生物 |
neq |
2012 |
|
67 |
60721-2-8:1994 |
|
|
|
2012 |
|
68 |
60721-3-0-2002 |
4798.10-1991 |
電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 導(dǎo)言 |
neq |
2006年報批
2007 |
|
69 |
60721-3-1-1997 |
4798.1-2005 |
電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 貯存 |
MOD |
2011 |
|
70 |
60721-3-2-1997 |
4798.2-1996 |
電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 運輸 |
neq |
國標(biāo)落后
2011 |
|
71 |
60721-3-3-2002 |
4798.3-200X |
電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 有氣候防護(hù)場所固定使用 |
MOD |
2005年報批
2011 |
|
72 |
60721-3-4-1995 |
4798.4-200X |
電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 無氣候防護(hù)場所固定使用 |
MOD |
2005年報批
2011 |
|
73 |
60721-3-5-1997 |
4798.5-200X |
電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 地面車輛使用 |
MOD |
2005年報批
2011 |
|
74 |
60721-3-6-1987 |
4798.6-1996 |
電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 船用 |
IDT |
2011 |
|
75 |
60721-3-7-2002 |
4798.7-1987 |
電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 攜帶和非固定使用 |
MOD |
2004年報批
2011 |
|
76 |
60721-3-9-1993 |
4798.9-1997 |
電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 產(chǎn)品內(nèi)部的微氣候 |
IDT |
IEC1994新版本
2011 |
|
77 |
TR60721-4-0-:2003 |
|
|
|
2006 |
|
78 |
TR60721-4-1:2003 |
|
|
|
2006 |
|
79 |
TR 60721-4-2:2003 |
|
|
|
2006 |
|
80 |
TR 60721-4-3:2003 |
|
|
|
2006 |
|
81 |
TR 60721-4-4:2003 |
|
|
|
2006 |
|
82 |
TR 60721-4-5:2003 |
|
|
|
2006 |
|
83 |
TR 60721-4-6:2003 |
|
|
|
|
|
84 |
TR 60721-4-7-2003 |
|
|
|
|