美國(guó)通信工業(yè)協(xié)會(huì)(TIA)近日發(fā)布一項(xiàng)新標(biāo)準(zhǔn)，光纖測(cè)試程序(FOTP)-33：TIA-455-33-B“光纜的拉伸負(fù)荷和折彎測(cè)試”，該文檔是TIA-455-33-A的修訂版。

    光纖測(cè)試程序是用于檢驗(yàn)光纜在經(jīng)歷拉伸負(fù)荷和折彎測(cè)試的過(guò)程中以及之前之后是否能達(dá)到按照詳細(xì)規(guī)范中所描述的要求。這個(gè)測(cè)試程序在標(biāo)準(zhǔn)FOTP-38“拉伸負(fù)荷下電纜光學(xué)張力的測(cè)量”中也經(jīng)常被用到。

    TIA-455-33-B由負(fù)責(zé)數(shù)字多模式系統(tǒng)的TIA FO-4.2分委員會(huì)制定，并于2005年1月發(fā)布。