| 標(biāo)準(zhǔn)編號 |
標(biāo)準(zhǔn)名稱 |
發(fā)布部門 |
實施日期 |
狀態(tài) |
| T/UNP 160-2024 |
LED戶外全彩顯示屏 |
中國聯(lián)合國采購促進(jìn)會
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2024-11-02 |
現(xiàn)行 |
| T/SHBX 056-2025 |
電子電器產(chǎn)品可持續(xù)包裝設(shè)計導(dǎo)則 |
上海市包裝技術(shù)協(xié)會
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2025-12-22 |
現(xiàn)行 |
| DB13/T 5767-2023 |
TFT混合液晶混配精制規(guī)程 |
河北省市場監(jiān)督管理局
|
2023-08-28 |
廢止 |
| DL/T 2343.1-2021 |
電能計量設(shè)備用元器件技術(shù)規(guī)范 第1部分：總則 |
國家能源局
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2022-03-22 |
現(xiàn)行 |
| DL/T 2343.2-2021 |
電能計量設(shè)備用元器件技術(shù)規(guī)范 第2部分：液晶顯示器 |
國家能源局
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2022-03-22 |
現(xiàn)行 |
| GB 11113-1989 |
人造石英晶體中雜質(zhì)的分析方法 |
機械電子工業(yè)部
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1990-03-01 |
廢止 |
| GB 11114-1989 |
人造石英晶體位錯X射線形貌檢測方法 |
機械電子工業(yè)部
|
1990-03-01 |
廢止 |
| GB 11296-1989 |
紅外探測材料型號命名方法 |
機械電子工業(yè)部
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1990-01-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 11297.1-1989 |
激光棒波前畸變的測量方法 |
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1990-01-01 |
作廢 |
| GB 11297.10-1989 |
熱釋電材料居里溫度Tc的測試方法 |
機械電子工業(yè)部
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1990-01-01 |
作廢 |
| GB/T 11297.10-2015 |
熱釋電材料居里溫度Tc的測試方法 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2016-07-01 |
現(xiàn)行 |
| GB 11297.11-1989 |
熱釋電材料介電常數(shù)的測試方法 |
機械電子工業(yè)部
|
1990-01-01 |
作廢 |
| GB/T 11297.11-2015 |
熱釋電材料介電常數(shù)的測試方法 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2016-07-01 |
現(xiàn)行 |
| GB 11297.12-1989 |
電光晶體鈮酸鋰、磷酸二氫鉀和磷酸二氘鉀消光比的測量方法 |
機械電子工業(yè)部
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1990-01-01 |
作廢 |
| GB/T 11297.8-2015 |
熱釋電材料熱釋電系數(shù)的測試方法 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2016-07-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 11297.9-2015 |
熱釋電材料介質(zhì)損耗角正切tanδ的測試方法 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2016-07-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 12273-1996 |
石英晶體元件 電子元器件質(zhì)量評定體系規(guī)范 第1部分:總規(guī)范 |
國家技術(shù)監(jiān)督局
|
1997-05-01 |
作廢 |
| GB/T 13415-1992 |
射頻混頻器總規(guī)范 |
國家技術(shù)監(jiān)督局
|
1992-01-02 |
作廢 |
| GB/T 13583-1992 |
紅外探測器外形尺寸系列 |
國家技術(shù)監(jiān)督局
|
1993-05-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 13584-1992 |
紅外探測器參數(shù)測試方法 |
國家技術(shù)監(jiān)督局
|
1993-05-01 |
作廢 |
| GB/T 13947-1992 |
電子元器件塑料封裝設(shè)備 通用技術(shù)條件 |
國家技術(shù)監(jiān)督局
|
1993-08-01 |
廢止 |
| GB/T 13965-1992 |
儀表元器件術(shù)語 |
國家技術(shù)監(jiān)督局
|
1993-08-01 |
作廢 |
| GB/T 14120-1993 |
單孔軸套安裝、軸控電子元件的安裝尺寸 |
國家技術(shù)監(jiān)督局
|
1993-08-01 |
作廢 |
| GB/T 14278-1993 |
電子設(shè)備熱設(shè)計術(shù)語 |
國家技術(shù)監(jiān)督局
|
1993-01-01 |
作廢 |
| GB/T 15286-1994 |
端接件總規(guī)范 |
國家技術(shù)監(jiān)督局
|
1995-07-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 15430-1995 |
紅外探測器環(huán)境試驗方法 |
國家技術(shù)監(jiān)督局
|
1995-08-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 15647-1995 |
穩(wěn)態(tài)可用性驗證試驗方法 |
國家技術(shù)監(jiān)督局
|
1996-03-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 15652-1995 |
金屬氧化物半導(dǎo)體氣敏元件總規(guī)范 |
國家技術(shù)監(jiān)督局
|
1996-04-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 15653-1995 |
金屬氧化物半導(dǎo)體氣敏元件測試方法 |
國家技術(shù)監(jiān)督局
|
1996-04-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 15768-1995 |
電容式濕敏元件與濕度傳感器總規(guī)范 |
國家技術(shù)監(jiān)督局
|
1996-08-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 16512-1996 |
抑制射頻干擾固定電感器 第1部分 總規(guī)范 |
國家技術(shù)監(jiān)督局
|
1997-05-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 16513-1996 |
抑制射頻干擾固定電感器 第2部分 分規(guī)范 試驗方法和一般要求的選擇 |
國家技術(shù)監(jiān)督局
|
1997-05-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 16516-1996 |
石英晶體元件 電子元器件質(zhì)量評定體系規(guī)范 第2部分:分規(guī)范 能力批準(zhǔn) |
國家技術(shù)監(jiān)督局
|
1996-05-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 16517-1996 |
石英晶體元件 電子元器件質(zhì)量評定體系規(guī)范 第3部分 分規(guī)范 鑒定批準(zhǔn) |
國家技術(shù)監(jiān)督局
|
1997-05-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 16822-1997 |
介電晶體介電性能的試驗方法 |
國家技術(shù)監(jiān)督局
|
1998-02-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 16879-1997 |
掩模曝光系統(tǒng)精密度和準(zhǔn)確度的表示準(zhǔn)則 |
國家技術(shù)監(jiān)督局
|
1998-03-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 16880-1997 |
光掩模缺陷分類和尺寸定義的準(zhǔn)則 |
國家技術(shù)監(jiān)督局
|
1998-03-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 17564.1-2005 |
電氣器件的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)素類型和相關(guān)分類模式 第1部分：定義——原則和方法 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2006-04-01 |
作廢 |
| GB/T 17564.2-2005 |
電氣器件的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)素類型和相關(guān)分類模式 第2部分：EXPRESS字典模式 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
|
2006-04-01 |
作廢 |
| GB/T 17564.4-2001 |
電氣元器件的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)元素類型和相關(guān)分類模式 第4部分：IEC標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)元素類型、元器件類別和項的基準(zhǔn)集 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
|
2002-05-01 |
作廢 |