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標(biāo)準(zhǔn)編號 標(biāo)準(zhǔn)名稱 發(fā)布部門 實(shí)施日期 狀態(tài)  GB/T 5252-1985  鍺單晶位錯(cuò)腐蝕坑密度測量方法 中國有色金屬工業(yè)協(xié). 1986-07-01 作廢  GB/T 5252-2006  鍺單晶位錯(cuò)腐蝕坑密度測量方法 國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫. 2006-11-01 作廢  GB/T 5252-2020  鍺單晶位錯(cuò)密度的測試方法 國家市場監(jiān)督管理總局. 2021-04-01 現(xiàn)行  GB 5253-1985  鍺單晶電阻率直流兩探針測量方法 1986-07-01 作廢  GB 5254-1985  鍺單晶晶向X光衍射測定方法 1986-07-01 作廢  GB 5255-1985  鍺單晶晶向光反射圖象測定方法 1986-07-01 作廢  GB 5256-1985  鍺單晶導(dǎo)電類型測量方法 1986-07-01 作廢  GB 5257-1985  鍺單晶少數(shù)載流子壽命直流光電導(dǎo)衰退測量方法 1986-07-01 作廢  GB/T 5778-1986  膨脹合金氣密性試驗(yàn)方法 國家標(biāo)準(zhǔn)局 1986-01-01 作廢  GB/T 5985-1986  熱雙金屬彎曲常數(shù)測量方法 1987-03-01 作廢  GB/T 5985-2003  熱雙金屬彎曲常數(shù)測量方法 國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫. 2004-04-01 作廢  GB/T 5986-2000  熱雙金屬彈性模量試驗(yàn)方法 國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫. 2000-08-01 現(xiàn)行  GB/T 5987-1986  熱雙金屬溫曲率試驗(yàn)方法 中國鋼鐵工業(yè)協(xié)會 1987-03-01 作廢  GB 6146-1985  精密電阻合金電阻率測試方法 國家標(biāo)準(zhǔn)局 1986-06-01 作廢  GB/T 6146-2010  精密電阻合金電阻率測試方法 國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫. 2011-05-01 現(xiàn)行  GB/T 6147-1985  精密電阻合金熱電動(dòng)勢率測試方法 國家標(biāo)準(zhǔn)局 1986-06-01 作廢  GB/T 6147-2005  精密電阻合金熱電動(dòng)勢率測試方法 國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫. 2006-04-01 作廢  GB/T 6147-2025  精密電阻合金熱電動(dòng)勢率測試方法 國家市場監(jiān)督管理總局. 2025-11-01 現(xiàn)行  GB/T 6148-1985  精密電阻合金電阻溫度系數(shù)測試方法 國家標(biāo)準(zhǔn)局 1986-06-01 作廢  GB/T 6148-2005  精密電阻合金電阻溫度系數(shù)測試方法 國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫. 2006-04-01 作廢  GB/T 6148-2025  精密電阻合金電阻溫度系數(shù)測試方法 國家市場監(jiān)督管理總局. 2025-11-01 現(xiàn)行  GB/T 6521-1986  氧化鋁粉末安息角的測定 1987-05-01 作廢  GB/T 6522-1986  氧化鋁粉末松裝密度的測定 1987-05-01 作廢  GB/T 6523-1986  氧化鋁粉末有效密度的測定 比重瓶法 1987-05-01 作廢  GB/T 6524-1986  金屬粉末粒度分布的測定 光透法 1987-05-01 作廢  GB/T 6524-2003  金屬粉末 粒度分布的測量 重力沉降光透法 國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫. 2004-05-01 現(xiàn)行  GB/T 6525-1986  燒結(jié)金屬材料室溫壓縮強(qiáng)度的測定 國家標(biāo)準(zhǔn)局 1987-05-01 作廢  GB/T 6526-1986  自熔合金粉末固-液相線溫度區(qū)間的測定方法 國家標(biāo)準(zhǔn)局 1987-05-01 作廢  GB/T 6608-1999  鋁箔厚度的測定 稱量法 國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局 2000-03-01 作廢  GB/T 6616-1995  半導(dǎo)體硅片電阻率及硅薄膜薄層電阻測定 非接觸渦流法 國家技術(shù)監(jiān)督局 1995-01-02 作廢  GB/T 6616-2023  半導(dǎo)體晶片電阻率及半導(dǎo)體薄膜薄層電阻的測試 非接觸渦流法 國家市場監(jiān)督管理總局. 2024-03-01 現(xiàn)行  GB/T 6617-1995  硅片電阻率測定 擴(kuò)展電阻探針法 國家技術(shù)監(jiān)督局 1995-01-02 作廢  GB/T 6618-1995  硅片厚度和總厚度變化測試方法 國家技術(shù)監(jiān)督局 1995-01-02 作廢  GB/T 6619-1995  硅片彎曲度測試方法 國家技術(shù)監(jiān)督局 1995-01-02 作廢  GB/T 6620-1995  硅片翹曲度非接觸式測試方法 國家技術(shù)監(jiān)督局 1995-01-02 作廢  GB/T 6621-1995  硅拋光片表面平整度測試方法 國家技術(shù)監(jiān)督局 1995-01-02 作廢  GB/T 6624-1995  硅拋光片表面質(zhì)量目測檢驗(yàn)方法 國家技術(shù)監(jiān)督局 1995-01-02 作廢  GB/T 8015.1-1987  鋁及鋁合金陽極氧化膜厚度的試驗(yàn)方法 重量法 1988-05-01 作廢  GB/T 8015.2-1987  鋁及鋁合金陽極氧化膜厚度的試驗(yàn)方法 分光束顯微法 1988-05-01 作廢  GB/T 8359-1987  高速鋼中碳化物相的定量分析 X射線衍射儀法 國家標(biāo)準(zhǔn)局 1989-01-01 作廢

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