| 標(biāo)準(zhǔn)編號 |
標(biāo)準(zhǔn)名稱 |
發(fā)布部門 |
實施日期 |
狀態(tài) |
| GB/Z 21738-2008 |
一維納米材料的基本結(jié)構(gòu) 高分辨透射電子顯微鏡檢測方法 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2008-11-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 26328-2010 |
生物化學(xué)分析儀器用干涉濾光片 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2011-06-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 26331-2010 |
光學(xué)薄膜元件環(huán)境適應(yīng)性試驗方法 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2011-06-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 26332.1-2010 |
光學(xué)和光學(xué)儀器 光學(xué)薄膜 第1部分：定義 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2011-06-01 |
作廢 |
| GB/T 26332.1-2018 |
光學(xué)和光子學(xué) 光學(xué)薄膜 第1部分：定義 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2018-10-01 |
作廢 |
| GB/T 26332.1-2024 |
光學(xué)和光子學(xué) 光學(xué)薄膜 第1部分：術(shù)語 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2025-04-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 26332.2-2015 |
光學(xué)和光子學(xué) 光學(xué)薄膜 第2部分：光學(xué)特性 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2016-07-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 26332.3-2015 |
光學(xué)和光子學(xué) 光學(xué)薄膜 第3部分：環(huán)境適應(yīng)性 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2016-07-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 26332.4-2015 |
光學(xué)和光子學(xué) 光學(xué)薄膜 第4部分：規(guī)定的試驗方法 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2016-07-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 26332.5-2022 |
光學(xué)和光子學(xué) 光學(xué)薄膜 第5部分：減反射膜基本要求 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2023-05-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 26332.6-2022 |
光學(xué)和光子學(xué) 光學(xué)薄膜 第6部分：反射膜基本要求 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2023-05-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 26332.7-2022 |
光學(xué)和光子學(xué) 光學(xué)薄膜 第7部分：中性分束膜基本要求 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2023-05-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 26332.8-2022 |
光學(xué)和光子學(xué) 光學(xué)薄膜 第8部分：激光光學(xué)薄膜基本要求 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2023-05-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 26597-2011 |
光學(xué)纖維傳像元件試驗方法 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2011-11-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 26598-2011 |
光學(xué)儀器用透明導(dǎo)電薄膜規(guī)范 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2011-11-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 26827-2011 |
波片相位延遲測量裝置的校準(zhǔn)方法 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2011-12-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 26828-2011 |
多光譜減反射膜規(guī)范 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2011-12-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 26829-2011 |
脈沖激光測距儀 測距參數(shù)的室內(nèi)測試方法 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2011-12-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 27660-2011 |
光學(xué)傳遞函數(shù) 用于辦公復(fù)印機用鏡頭 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2012-05-01 |
廢止 |
| GB/T 27667-2011 |
光學(xué)系統(tǒng)像質(zhì)評價 畸變的測定 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2012-05-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 27668.1-2011 |
顯微術(shù)術(shù)語 第1部分: 光學(xué)顯微術(shù) |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2012-05-01 |
作廢 |
| GB/T 2831-1981 |
光學(xué)零件的面形偏差 檢驗方法(光圈識別) |
國家標(biāo)準(zhǔn)總局
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1982-10-01 |
作廢 |
| GB/T 2831-2009 |
光學(xué)零件的面形偏差 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2010-02-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 31010-2014 |
色散型高光譜遙感器實驗室光譜定標(biāo) |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2015-02-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 31010-2014E |
色散型高光譜遙感器實驗室光譜定標(biāo) |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2015-02-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 3158-1982 |
光學(xué)零件球面半徑數(shù)值系列 |
國家標(biāo)準(zhǔn)局
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1983-05-01 |
作廢 |
| GB 4315.1-1984 |
光學(xué)傳遞函數(shù)術(shù)語、符號 |
國家標(biāo)準(zhǔn)局
|
1985-02-01 |
作廢 |
| GB/T 4315.1-2009 |
光學(xué)傳遞函數(shù) 第1部分：術(shù)語、符號 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2009-12-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 4315.2-2009 |
光學(xué)傳遞函數(shù) 第2部分：測量導(dǎo)則 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2010-02-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 44436-2024 |
軟X射線-極紫外波段空間成像儀器實驗室檢測與定標(biāo)方法 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2024-09-29 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 44436-2024E |
軟X射線-極紫外波段空間成像儀器實驗室檢測與定標(biāo)方法（英文版） |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2024-09-29 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 44450-2024 |
光學(xué)和光子學(xué) 光學(xué)材料和元件 0.78 μm～25 μm紅外光譜用光學(xué)材料特性 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2025-01-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 7242-1987 |
透鏡中心誤差 |
國家標(biāo)準(zhǔn)局
|
1987-12-01 |
作廢 |
| GB/T 7242-2010 |
透鏡中心偏差 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2011-05-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 7660.1-1987 |
反射棱鏡 光軸、光軸長度、光軸截面與光學(xué)平行度 |
中國機械工業(yè)聯(lián)合會
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1988-01-01 |
作廢 |
| GB/T 7660.1-2013 |
反射棱鏡 第1部分：幾何特性 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2014-07-15 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 7660.2-1987 |
反射棱鏡 分類、代號與圖表 |
中國機械工業(yè)聯(lián)合會
|
1988-01-01 |
作廢 |
| GB/T 7660.2-2013 |
反射棱鏡 第2部分：像偏轉(zhuǎn)特性 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2014-07-15 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 7660.3-1987 |
反射棱鏡 像偏轉(zhuǎn)特性 |
中國機械工業(yè)聯(lián)合會
|
1988-01-01 |
作廢 |
| GB/T 7660.3-2013 |
反射棱鏡 第3部分：光學(xué)平行度及其檢驗方法 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2014-07-15 |
現(xiàn)行 |