| 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) |
標(biāo)準(zhǔn)名稱 |
發(fā)布部門 |
實(shí)施日期 |
狀態(tài) |
| DB31/T 315-2004 |
透射電子顯微鏡放大倍率校準(zhǔn)方法 |
上海市質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
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2004-08-01 |
廢止 |
| DZ 0029-1992 |
HYX-3型微機(jī)X射線熒光儀 |
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1992-09-24 |
作廢 |
| DZ 0030-1992 |
XDY-1型雙道原子熒光光度計(jì)技術(shù)條件 |
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1992-09-24 |
作廢 |
| GB/T 10155-1988 |
體視顯微鏡 |
中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)
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1989-07-01 |
作廢 |
| GB 10983-1989 |
看譜鏡 |
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1990-01-01 |
作廢 |
| GB 10984-1989 |
單色儀 |
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1990-01-01 |
作廢 |
| GB/T 13742-1992 |
光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)量準(zhǔn)確度 |
國家技術(shù)監(jiān)督局
|
1993-08-01 |
作廢 |
| GB/T 15074-1994 |
電子探針定量分析方法通則 |
國家技術(shù)監(jiān)督局
|
1994-01-02 |
作廢 |
| GB/T 15075-1994 |
電子探針分析儀的檢測(cè)方法 |
國家技術(shù)監(jiān)督局
|
1994-01-02 |
作廢 |
| GB/T 15244-1994 |
玻璃的電子探針定量分析方法 |
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1995-06-01 |
作廢 |
| GB/T 15244-2002 |
玻璃的電子探針定量分析方法 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2003-06-01 |
作廢 |
| GB/T 15245-1994 |
稀土氧化物的電子探針定量分析方法 |
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1995-06-01 |
作廢 |
| GB/T 15245-2002 |
稀土氧化物的電子探針定量分析方法 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
|
2003-06-01 |
廢止 |
| GB/T 15246-1994 |
硫化物礦物的電子探針定量分析方法 |
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1995-06-01 |
作廢 |
| GB/T 15246-2002 |
硫化物礦物的電子探針定量分析方法 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2003-06-01 |
作廢 |
| GB/T 15246-2022 |
微束分析 硫化物礦物的電子探針定量分析方法 |
國家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局.
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2023-02-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 15247-1994 |
碳鋼和低合金鋼中碳的電子探針的定量分析方法 靈敏度曲線法(檢量線法) |
國家技術(shù)監(jiān)督局
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1995-06-01 |
作廢 |
| GB/T 15247-2008 |
微束分析 電子探針顯微分析 測(cè)定鋼中碳含量的校正曲線法 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2009-04-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 15616-1995 |
金屬及合金的電子探針定量分析方法 |
國家技術(shù)監(jiān)督局
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1996-02-01 |
作廢 |
| GB/T 15617-1995 |
硅酸鹽礦物的電子探針定量分析方法 |
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1996-02-01 |
作廢 |
| GB/T 15617-2002 |
硅酸鹽礦物的電子探針定量分析方法 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
|
2003-06-01 |
作廢 |
| GB/T 16594-1996 |
微米級(jí)長(zhǎng)度的掃描電鏡測(cè)量方法 |
國家技術(shù)監(jiān)督局
|
1997-04-01 |
作廢 |
| GB/T 17359-1998 |
電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析通則 |
國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
|
1998-12-01 |
作廢 |
| GB/T 17360-1998 |
鋼中低含量Si、Mn 的電子探針定量分析方法 |
國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
|
1998-01-02 |
作廢 |
| GB/T 17360-2020 |
微束分析 鋼中低含量硅、錳的電子探針定量分析方法 |
國家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局.
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2021-04-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 17361-1998 |
沉積巖中自生粘土礦物掃描電子顯微鏡及X射線能譜鑒定方法 |
國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
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1998-01-02 |
作廢 |
| GB/T 17362-1998 |
黃金飾品的掃描電鏡X射線 能譜分析方法 |
國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
|
1998-01-02 |
作廢 |
| GB/T 17363-1998 |
黃金制品的電子探針定量測(cè)定方法 |
國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
|
1998-01-02 |
作廢 |
| GB/T 17364-1998 |
黃金制品中金含量的無損定量分析方法 |
國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
|
1998-01-02 |
作廢 |
| GB/T 17365-1998 |
金屬與合金電子探針定量分析樣品的制備方法 |
國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
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1998-01-02 |
作廢 |
| GB/T 17366-1998 |
礦物巖石的電子探針分析試樣的制備方法 |
國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
|
1998-01-02 |
作廢 |
| GB/T 17506-1998 |
船舶黑色金屬腐蝕層的電子探針分析方法 |
國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
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1999-07-01 |
作廢 |
| GB/T 17507-1998 |
電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標(biāo)樣通用技術(shù)條件 |
國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
|
1999-07-01 |
作廢 |
| GB/T 17722-1999 |
金覆蓋層厚度的掃描電鏡測(cè)量方法 |
國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
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1999-01-02 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 17722-2026 |
微束分析 金覆蓋層厚度的掃描電鏡測(cè)量方法 |
國家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局.
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2026-08-01 |
即將實(shí)施 |
| GB/T 17723-1999 |
黃金制品鍍層成分的 X 射線能譜測(cè)量方法 |
國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
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1999-01-02 |
作廢 |
| GB 18151-2000 |
激光防護(hù)屏 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2000-01-02 |
作廢 |
| GB/T 18151-2008 |
激光防護(hù)屏 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2009-10-01 |
作廢 |
| GB/T 18735-2002 |
分析電鏡(AEM/EDS)納米薄標(biāo)樣 通用規(guī)范 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2002-12-01 |
作廢 |
| GB/T 18873-2002 |
生物薄試樣的透射電子顯微鏡子-X射線能譜定量分析通則 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
|
2003-06-01 |
作廢 |