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標(biāo)準(zhǔn)編號 標(biāo)準(zhǔn)名稱 發(fā)布部門 實(shí)施日期 狀態(tài)  GB/T 2423.58-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2-80部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fi: 振動 混合模式 國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫. 2009-01-01 現(xiàn)行  GB/T 2423.59-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABMFh：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機(jī)）綜合 國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫. 2009-11-01 現(xiàn)行  GB 2423.6-1981  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Eb:碰撞試驗(yàn)方法 1982-04-01 作廢  GB/T 2423.6-1995  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則:碰撞 國家技術(shù)監(jiān)督局 1996-08-01 作廢  GB/T 2423.60-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)U：引出端及整體安裝件強(qiáng)度 國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫. 2009-11-01 現(xiàn)行  GB/T 2423.61-2018  環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)和導(dǎo)則:大型試件砂塵試驗(yàn) 國家市場監(jiān)督管理總局. 2018-12-28 現(xiàn)行  GB/T 2423.62-2018  環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fx和導(dǎo)則:多輸入多輸出振動 國家市場監(jiān)督管理總局. 2019-07-01 現(xiàn)行  GB/T 2423.63-2019  環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn):溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(混合模式)綜合 國家市場監(jiān)督管理總局. 2019-12-01 現(xiàn)行  GB/T 2423.64-2023  環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fj：振動 長時間歷程再現(xiàn) 國家市場監(jiān)督管理總局. 2024-04-01 現(xiàn)行  GB/T 2423.65-2024  環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)：鹽霧/溫度/濕度/太陽輻射綜合 國家市場監(jiān)督管理總局. 2025-03-01 現(xiàn)行  GB/T 2423.65-2024E  環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)：鹽霧/溫度/濕度/太陽輻射綜合 國家市場監(jiān)督管理總局. 2025-03-01 現(xiàn)行  GB/T 2423.66-2025  環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)：溫度/濕度/靜負(fù)載綜合 國家市場監(jiān)督管理總局. 2026-02-01 現(xiàn)行  GB 2423.7-1981  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ec:傾跌與翻倒試驗(yàn)方法 1982-04-01 作廢  GB/T 2423.7-1995  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒(主要用于設(shè)備型樣品) 國家技術(shù)監(jiān)督局 1996-08-01 作廢  GB 2423.8-1981  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ed:自由跌落試驗(yàn)方法 1982-04-01 作廢  GB/T 2423.8-1995  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed:自由跌落 國家技術(shù)監(jiān)督局 1996-08-01 作廢  GB 2423.9-1989  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱試驗(yàn)方法 1990-01-01 作廢  GB/T 2423.9-2001  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cb：設(shè)備用恒定濕熱 國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫. 2002-06-01 作廢  GB/T 2424.1-1989  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則 1990-01-01 作廢  GB/T 2424.1-2005  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則 國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫. 2005-08-01 作廢  GB/T 2424.1-2015  環(huán)境試驗(yàn) 第3部分：支持文件及導(dǎo)則 低溫和高溫試驗(yàn) 國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫. 2016-05-01 現(xiàn)行  GB 2424.10-1981  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 大氣腐蝕加速試驗(yàn)的通用導(dǎo)則 1982-04-01 作廢  GB/T 2424.10-1993  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程大氣腐蝕加速試驗(yàn)的通用導(dǎo)則 國家技術(shù)監(jiān)督局 1994-07-01 作廢  GB/T 2424.10-2012  環(huán)境試驗(yàn) 大氣腐蝕加速試驗(yàn)的通用導(dǎo)則 國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫. 2013-06-01 現(xiàn)行  GB/T 2424.11-1982  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)導(dǎo)則 中國電器工業(yè)協(xié)會 1983-06-01 作廢  GB/T 2424.11-2013  環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kc：接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)導(dǎo)則 國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫. 2014-03-07 現(xiàn)行  GB/T 2424.12-1982  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)導(dǎo)則 中國電器工業(yè)協(xié)會 1983-06-01 作廢  GB/T 2424.12-2014  環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kd：接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)導(dǎo)則 國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫. 2015-04-01 現(xiàn)行  GB/T 2424.13-1981  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則 1982-04-01 作廢  GB/T 2424.13-2002  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則 國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫. 2003-01-01 作廢  GB 2424.14-1981  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 太陽輻射試驗(yàn)導(dǎo)則 1982-04-01 作廢  GB/T 2424.14-1995  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 太陽輻射試驗(yàn)導(dǎo)則 國家技術(shù)監(jiān)督局 1996-08-01 作廢  GB/T 2424.15-1992  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則 國家技術(shù)監(jiān)督局 1993-03-01 作廢  GB/T 2424.15-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第3部分：溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則 國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫. 2009-10-01 廢止  GB 2424.16-1982  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 密封試驗(yàn)導(dǎo)則 1983-09-01 作廢  GB 2424.17-1982  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 錫焊試驗(yàn)導(dǎo)則 1983-06-01 作廢  GB/T 2424.17-1995  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 錫焊試驗(yàn)導(dǎo)則 國家技術(shù)監(jiān)督局 1995-08-01 作廢  GB/T 2424.17-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)T：錫焊試驗(yàn)導(dǎo)則 國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢. 2009-11-01 現(xiàn)行  GB 2424.18-1982  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 在清洗劑中浸漬試驗(yàn)導(dǎo)則 作廢  GB/T 2424.19-1984  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 模擬貯存影響的環(huán)境試驗(yàn)導(dǎo)則 1985-07-01 作廢

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