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電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 模擬貯存影響的環(huán)境試驗(yàn)導(dǎo)則

國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):GB/T 2424.19-1984 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):已作廢
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標(biāo)準(zhǔn)簡介
英文名稱:  Basic environmental testing procedures for electric and electronic products; Guidance for the environmental tests simulating the effects of storage
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):  已作廢
什么是替代情況? 替代情況:  GB/T 2424.19-2005代替
什么是中標(biāo)分類? 中標(biāo)分類:  電工>>電工綜合>>K04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
什么是ICS分類?  ICS分類:  試驗(yàn)>>19.040環(huán)境試驗(yàn)
什么是采標(biāo)情況? 采標(biāo)情況:  =IEC 68-2-48-82
發(fā)布日期:  1984-01-02
實(shí)施日期:  1985-07-01
作廢日期:  2005-08-01
首發(fā)日期:  1984-12-09
復(fù)審日期:  2004-10-14
起草單位:  環(huán)標(biāo)委貯存環(huán)境工作組
頁數(shù):  0
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 GB 2424.2-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則
 GB/T 2424.2-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則
 GB/T 2424.2-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則
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 GB/T 2424.6-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度/濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)
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 GB/T 26808-2011 恒溫槽與恒溫循環(huán)裝置 低溫恒溫槽
 GB/T 26809-2011 恒溫槽與恒溫循環(huán)裝置 低溫恒溫循環(huán)裝置
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