| 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) |
標(biāo)準(zhǔn)名稱 |
發(fā)布部門(mén) |
實(shí)施日期 |
狀態(tài) |
| GB/T 30110-2013 |
空間紅外探測(cè)器碲鎘汞外延材料參數(shù)測(cè)試方法 |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2014-05-15 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 30453-2013 |
硅材料原生缺陷圖譜 |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2014-10-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 32279-2015 |
硅片訂貨單格式輸入規(guī)范 |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2017-01-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 34479-2017 |
硅片字母數(shù)字標(biāo)志規(guī)范 |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2018-07-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 35316-2017 |
藍(lán)寶石晶體缺陷圖譜 |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2018-07-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 37051-2018 |
太陽(yáng)能級(jí)多晶硅錠、硅片晶體缺陷密度測(cè)定方法 |
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2019-04-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 4058-2009 |
硅拋光片氧化誘生缺陷的檢驗(yàn)方法 |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2010-06-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 4061-2009 |
硅多晶斷面夾層化學(xué)腐蝕檢驗(yàn)方法 |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2010-06-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 43612-2023 |
碳化硅晶體材料缺陷圖譜 |
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局.
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2024-07-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 6616-2009 |
半導(dǎo)體硅片電阻率及硅薄膜薄層電阻測(cè)試方法 非接觸渦流法 |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2010-06-01 |
作廢 |
| GB/T 6617-2009 |
硅片電阻率測(cè)定 擴(kuò)展電阻探針?lè)? |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2010-06-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 6618-2009 |
硅片厚度和總厚度變化測(cè)試方法 |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2010-06-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 6619-2009 |
硅片彎曲度測(cè)試方法 |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2010-06-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 6621-2009 |
硅片表面平整度測(cè)試方法 |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2010-06-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 6624-2009 |
硅拋光片表面質(zhì)量目測(cè)檢驗(yàn)方法 |
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2010-06-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 8756-2018 |
鍺晶體缺陷圖譜 |
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局.
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2019-07-01 |
現(xiàn)行 |
| T/IAWBS 003-2017 |
碳化硅外延層載流子濃度測(cè)定 汞探針電容-電壓法 |
中關(guān)村天合寬禁帶半導(dǎo).
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2017-12-31 |
現(xiàn)行 |
| T/TMAC 208-2025 |
電子級(jí)高純石英砂 |
中國(guó)技術(shù)市場(chǎng)協(xié)會(huì)
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2025-08-11 |
現(xiàn)行 |
| T/TMAC 209-2025 |
光伏級(jí)高純石英砂 |
中國(guó)技術(shù)市場(chǎng)協(xié)會(huì)
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2025-08-11 |
現(xiàn)行 |
| YS/T 23-1992 |
硅外延層厚度測(cè)定 堆垛層錯(cuò)尺寸法 |
中國(guó)有色金屬工業(yè)總公.
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1993-01-01 |
作廢 |
| YS/T 24-1992 |
外延釘缺陷的檢驗(yàn)方法 |
中國(guó)有色金屬工業(yè)總公.
|
1993-01-01 |
作廢 |
| YS/T 679-2008 |
非本征半導(dǎo)體中少數(shù)載流子擴(kuò)散長(zhǎng)度的穩(wěn)態(tài)表面光電壓測(cè)試方法 |
國(guó)家發(fā)展和改革委員會(huì)
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2008-09-01 |
作廢 |
| YS/T 838-2012 |
碲化鎘 |
工業(yè)和信息化部
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2013-03-01 |
現(xiàn)行 |
| YS/T 985-2014 |
硅拋光回收片 |
工業(yè)和信息化部
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2015-04-01 |
現(xiàn)行 |