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 您的位置:工標網(wǎng) >> 標準分類 >> 行業(yè)分類 >> 電子行業(yè)標準(SJ)
標準編號 標準名稱 發(fā)布部門 實施日期 狀態(tài)
 SJ/T 11010-1996  電子器件詳細規(guī)范 半導體電視集成電路CD1124ACP伴音中頻放大電路 1997-01-01 廢止
 SJ/T 11011-1996  電子器件用純銀釬焊料的分析方法 雙硫腙分光光度法測定鉛 1997-01-01 作廢
 SJ/T 11011-2015  電子器件用純銀釬料中雜質(zhì)含量 鉛、鉍、鋅、鎘、鐵、鎂、鋁、錫、銻、磷的ICP-AES測試方法 工業(yè)和信息化部 2016-04-01 現(xiàn)行
 SJ/T 11012-1996  電子器件用純銀釬焊料的分析方法 原子吸收分光光度法測定鎂和鋅 1997-01-01 作廢
 SJ/T 11013-1996  電子器件用純銀釬焊料的分析方法 原子吸收分光光度法測定鎘 1997-01-01 作廢
 SJ/T 11014-1996  電子器件用純銀釬焊料的分析方法 孔雀綠分光光度法測定銻 1997-01-01 作廢
 SJ/T 11015-1996  電子器件用純銀釬焊料的分析方法 鄰菲羅啉分光光度法測定鐵 1997-01-01 作廢
 SJ/T 11016-1996  電子器件用純銀釬焊料的分析方法 馬錢子堿-碘化鉀分光光度法測定鉍 1997-01-01 作廢
 SJ/T 11017-1996  電子器件用純銀釬焊料的分析方法 磷鉬藍分光光度法測定磷 1997-01-01 作廢
 SJ/T 11018-1996  電子器件用純銀釬焊料的分析方法 燃燒碘量法測定硫 1997-01-01 作廢
 SJ/T 11019-1996  電子器件用純銀釬焊料的分析方法 鉛、鉍、鋅、鎘、鐵、鎂、鋁、錫及銻的化學光譜測定 1997-01-01 作廢
 SJ 1102-1976  反向阻斷型普通半導體閘流管(普通可控整流器) 第四機械工業(yè)部 1977-01-01 廢止
 SJ 1102-76  反向阻斷型普通半導體閘流管(普通可控整流器) 1977-10-01 現(xiàn)行
 SJ/T 11020-1996  電子器件用銀銅釬焊料的分析方法 碘量法測定銅 1997-01-01 現(xiàn)行
 SJ/T 11021-1996  電子器件用銀銅釬焊料的分析方法 鉛、鉍、鋅、鎘、鐵、鎂、鋁、錫和銻的化學光譜測定 1997-01-01 現(xiàn)行
 SJ/T 11022-1996  電子器件用銀銅釬焊料的分析方法 鄰基二酚紫-溴化十六烷基吡啶分光光度法測定錫 1997-01-01 現(xiàn)行
 SJ/T 11023-1996  電子器件用銀銅釬焊料的分析方法 原子吸收分光光度法測定鉍 1997-01-01 現(xiàn)行
 SJ/T 11024-1996  電子器件用銀銅釬焊料的分析方法 原子吸收分光光度法測定銻 1997-01-01 現(xiàn)行
 SJ/T 11025-1996  電子器件用銀銅釬焊料的分析方法 原子吸收分光光度法測定鉛 1997-01-01 廢止
 SJ/T 11026-1996  電子器件用銀銅釬焊料的分析方法 原子吸收分光光度法測定鐵、鎘、鋅 1997-01-01 現(xiàn)行
 SJ/T 11027-1996  電子器件用銀銅釬焊料的分析方法 原子吸收分光光度法測定鎂 1997-01-01 現(xiàn)行
 SJ/T 11028-1996  電子器件用金銅釬焊料的分析方法 EDTA容量法測定銅 1997-01-01 作廢
 SJ/T 11028-2015  電子器件用金銅釬料的分析方法 EDTA容量法測定銅 工業(yè)和信息化部 2016-04-01 現(xiàn)行
 SJ/T 11029-1996  電子器件用金鎳釬焊料的分析方法 EDTA容量法測定鎳 1997-01-01 作廢
 SJ/T 11029-2015  電子器件用金鎳釬料的分析方法 EDTA容量法測定鎳 工業(yè)和信息化部 2016-04-01 現(xiàn)行
 SJ/T 11030-1996  電子器件用金銅及金鎳釬焊料的分析方法 雙硫腙分光光度法測定鉛 1997-01-01 作廢
 SJ/T 11030-2015  電子器件用金銅及金鎳釬料中雜質(zhì)鉛、鋅、磷的ICP-AES測定方法 工業(yè)和信息化部 2016-04-01 現(xiàn)行
 SJ/T 11031-1996  電子器件用金銅及金鎳釬焊料的分析方法 磷鉬藍分光光度法測定磷 1997-01-01 作廢
 SJ/T 11032-1996  電子器件用金銅及金鎳釬焊料的分析方法 原子吸收分光光度法測定鋅 1997-01-01 作廢
 SJ/T 11033-1996  電子玻璃密度的測試方法 浮沉法 1997-01-01 廢止
 SJ/T 11034-1996  電子玻璃直流擊穿強度測試方法 1997-01-01 廢止
 SJ/T 11035-1996  電子玻璃抗水化學穩(wěn)定性測試方法 1997-01-01 廢止
 SJ/T 11036-1996  電子玻璃平均線熱膨脹系數(shù)的測試方法 1997-01-01 廢止
 SJ/T 11037-1996  電子玻璃熱穩(wěn)定性測試方法 1997-01-01 廢止
 SJ/T 11038-1996  電子玻璃軟化點的測試方法 1997-01-01 廢止
 SJ/T 11039-1996  電子玻璃退火點和應變點的測試方法 1997-01-01 廢止
 SJ/T 11040-1996  電子玻璃高溫粘度測試方法 1997-01-01 廢止
 SJ/T 11041-1996  電子玻璃抗沖擊強度測試方法 1997-01-01 廢止
 SJ/T 11042-1996  電子玻璃體積電阻率為100MΩ·cm時的溫度(Tk-100)的測試方法 1997-01-01 廢止
 SJ/T 11043-1996  電子玻璃高頻介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的測試方法 1997-01-01 廢止
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