| 標準編號 |
標準名稱 |
發(fā)布部門 |
實施日期 |
狀態(tài) |
| GB/T 10050-2009 |
光學和光學儀器 參考波長 |
國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2009-12-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 10155-1988 |
體視顯微鏡 |
中國機械工業(yè)聯(lián)合會
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1989-07-01 |
作廢 |
| GB/T 10156-2009 |
水準儀 |
國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2009-12-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 10987-2009 |
光學系統(tǒng) 參數(shù)的測定 |
國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2009-12-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 10988-2009 |
光學系統(tǒng)雜(散)光測量方法 |
國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2009-12-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 11162-2009 |
光學分劃零件通用技術條件 |
國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.
|
2009-12-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 11168-2009 |
光學系統(tǒng)像質測試方法 |
國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2009-12-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 1146-2009 |
水準泡 |
國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2009-12-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 1204-1975 |
光學零件的倒角 |
中國機械工業(yè)聯(lián)合會
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1976-01-01 |
作廢 |
| GB 1205-1975 |
透鏡邊緣及中心最小厚度 |
中國機械工業(yè)聯(lián)合會
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1976-01-01 |
作廢 |
| GB/T 12085.1-2010 |
光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第1部分：術語、試驗范圍 |
國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2011-05-01 |
作廢 |
| GB/T 12085.1-2022 |
光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第1部分：術語、試驗范圍 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2023-05-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 12085.10-2010 |
光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第10部分：振動（正弦）與高溫、低溫綜合試驗 |
國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2011-05-01 |
作廢 |
| GB/T 12085.11-2010 |
光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第11部分：長霉 |
國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2011-05-01 |
作廢 |
| GB/T 12085.11-2022 |
光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第11部分：長霉 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2023-05-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 12085.12-2010 |
光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第12部分：污染 |
國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2011-05-01 |
作廢 |
| GB/T 12085.12-2022 |
光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第12部分：污染 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2023-05-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 12085.13-2010 |
光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗 |
國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2011-05-01 |
作廢 |
| GB/T 12085.14-2010 |
光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第14部分：露、霜、冰 |
國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2011-05-01 |
作廢 |
| GB/T 12085.14-2022 |
光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第14部分：露、霜、冰 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2023-05-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 12085.15-2010 |
光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第15部分：寬帶隨機振動（數(shù)字控制）與高溫、低溫綜合試驗 |
國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.
|
2011-05-01 |
作廢 |
| GB/T 12085.16-2010 |
光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第16部分：彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗 |
國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2011-05-01 |
作廢 |
| GB/T 12085.17-2011 |
光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第17部分 污染、太陽輻射綜合試驗 |
國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2011-11-01 |
作廢 |
| GB/T 12085.17-2022 |
光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第17部分：污染、太陽輻射綜合試驗 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2023-05-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 12085.18-2011 |
光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第18部分：濕熱、低內壓綜合試驗 |
國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2011-11-01 |
作廢 |
| GB/T 12085.19-2011 |
光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第19部分：溫度周期與正弦振動、隨機振動綜合試驗 |
國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2011-11-01 |
作廢 |
| GB/T 12085.2-2010 |
光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第2部分：低溫、高溫、濕熱 |
國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2011-05-01 |
作廢 |
| GB/T 12085.2-2022 |
光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第2部分：低溫、高溫、濕熱 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2023-05-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 12085.20-2011 |
光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第20部分：含二氧化硫、硫化氫的濕空氣 |
國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2011-11-01 |
作廢 |
| GB/T 12085.20-2022 |
光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第20部分:含二氧化硫、硫化氫的濕空氣 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2023-05-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 12085.21-2011 |
光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第21部分：低壓與大氣溫度、高溫綜合試驗 |
國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2011-11-01 |
作廢 |
| GB/T 12085.22-2022 |
光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第22部分: 低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機振動綜合試驗 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2023-05-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 12085.23-2022 |
光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第23部分：低壓與低溫、大氣溫度、高溫或濕熱綜合試驗 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2023-05-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 12085.3-2010 |
光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第3部分：機械作用力 |
國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2011-05-01 |
作廢 |
| GB/T 12085.3-2022 |
光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第3部分：機械作用力 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2023-05-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 12085.4-2010 |
光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第4部分：鹽霧 |
國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2011-05-01 |
作廢 |
| GB/T 12085.4-2022 |
光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第4部分：鹽霧 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2023-05-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 12085.5-2010 |
光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗 |
國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2011-05-01 |
作廢 |
| GB/T 12085.6-2010 |
光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第6部分：砂塵 |
國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2011-05-01 |
作廢 |
| GB/T 12085.6-2022 |
光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第6部分：砂塵 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2023-05-01 |
現(xiàn)行 |