| 標(biāo)準(zhǔn)編號 |
標(biāo)準(zhǔn)名稱 |
發(fā)布部門 |
實(shí)施日期 |
狀態(tài) |
| GB/T 40293-2021 |
紅外硫系光學(xué)薄膜折射率測試方法 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2022-03-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 1224-1999 |
幾何光學(xué)術(shù)語、符號 |
國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
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2000-05-01 |
作廢 |
| GB/T 1224-2016 |
幾何光學(xué)術(shù)語、符號 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2017-03-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 13742-2009 |
光學(xué)傳遞函數(shù)測量準(zhǔn)確度 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2009-12-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 16601-1996 |
光學(xué)表面激光損傷閾值測試方法 第1部分:1對1測試 |
國家技術(shù)監(jiān)督局
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1997-04-01 |
作廢 |
| GB/T 16863-1997 |
晶體折射率的試驗(yàn)方法 |
國家技術(shù)監(jiān)督局
|
1997-12-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 16864-1997 |
低溫下晶體透射率的試驗(yàn)方法 |
國家技術(shù)監(jiān)督局
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1997-12-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/Z 21738-2008 |
一維納米材料的基本結(jié)構(gòu) 高分辨透射電子顯微鏡檢測方法 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2008-11-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 26598-2011 |
光學(xué)儀器用透明導(dǎo)電薄膜規(guī)范 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2011-11-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 26828-2011 |
多光譜減反射膜規(guī)范 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2011-12-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 26829-2011 |
脈沖激光測距儀 測距參數(shù)的室內(nèi)測試方法 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2011-12-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 30543-2014 |
納米技術(shù) 單壁碳納米管的透射電子顯微術(shù)表征方法 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2014-11-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 31010-2014 |
色散型高光譜遙感器實(shí)驗(yàn)室光譜定標(biāo) |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2015-02-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 31010-2014E |
色散型高光譜遙感器實(shí)驗(yàn)室光譜定標(biāo) |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2015-02-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 34831-2017 |
納米技術(shù) 貴金屬納米顆粒電子顯微鏡成像 高角環(huán)形暗場法 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2018-05-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 34831-2017E |
納米技術(shù) 貴金屬納米顆粒電子顯微鏡成像 高角環(huán)形暗場法（英文版） |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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2018-05-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 42208-2022 |
納米技術(shù) 多相體系中納米顆粒粒徑測量 透射電鏡圖像法 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2023-07-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/Z 43082-2023 |
月球與行星原位探測相機(jī)通用規(guī)范 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2023-11-27 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 44436-2024 |
軟X射線-極紫外波段空間成像儀器實(shí)驗(yàn)室檢測與定標(biāo)方法 |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2024-09-29 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 44436-2024E |
軟X射線-極紫外波段空間成像儀器實(shí)驗(yàn)室檢測與定標(biāo)方法（英文版） |
國家市場監(jiān)督管理總局.
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2024-09-29 |
現(xiàn)行 |
| GB 5699-1985 |
采光測量方法 |
國家標(biāo)準(zhǔn)局
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1986-09-01 |
作廢 |
| JB/T 8237-1999 |
直角棱鏡 |
全國光學(xué)和光學(xué)儀器標(biāo).
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2000-01-01 |
作廢 |
| JB/T 8238-1999 |
光學(xué)儀器用齒紋 |
國家機(jī)械工業(yè)局
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2000-01-01 |
廢止 |
| JB/T 8240-1999 |
光學(xué)儀器用目鏡螺紋 |
國家機(jī)械工業(yè)局
|
2000-01-01 |
廢止 |
| JB/T 9311-1999 |
光學(xué)儀器 產(chǎn)品型號命名方法 |
國家機(jī)械工業(yè)局
|
2000-01-01 |
廢止 |
| JB/T 9330-1999 |
光學(xué)儀器用可變光闌片基本參數(shù) |
國家機(jī)械工業(yè)局
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2000-01-01 |
廢止 |
| JB/T 9333-1999 |
顯微鏡光學(xué)顯微術(shù)通用浸油 |
國家機(jī)械工業(yè)局
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2000-01-01 |
廢止 |
| JB/T 9334-1999 |
顯微鏡 光譜濾光片基本規(guī)格 |
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2000-01-01 |
廢止 |
| JC/T 2418-2017 |
摻釹硼酸氧鈣釓釔激光自倍頻晶體通用技術(shù)條件及測試方法 |
工業(yè)和信息化部
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2017-10-01 |
現(xiàn)行 |
| JC/T 2419-2017 |
光參量振蕩用磷酸氧鈦鉀晶體 |
工業(yè)和信息化部
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2017-10-01 |
現(xiàn)行 |
| JC/T 2512-2019 |
全固態(tài)激光器用高抗灰跡磷酸鈦氧鉀單晶元件技術(shù)要求 |
工業(yè)和信息化部
|
2019-11-01 |
現(xiàn)行 |
| JC/T 2513-2019 |
磷酸鈦氧鉀單晶元件抗灰跡性能測試方法 |
工業(yè)和信息化部
|
2019-11-01 |
現(xiàn)行 |
| JC/T 2613-2021 |
鈦寶石激光晶體 |
工業(yè)和信息化部
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2021-07-01 |
現(xiàn)行 |
| JC/T 2688-2022 |
標(biāo)線用激光模組 |
工業(yè)和信息化部
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2023-04-01 |
現(xiàn)行 |
| T/CASMES 278-2023 |
鈣鈦礦光伏組件功率衰減檢測技術(shù)要求 |
中國中小企業(yè)協(xié)會
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2023-12-31 |
現(xiàn)行 |
| T/CASMES 281-2023 |
鈣鈦礦電池發(fā)電效率性能測定技術(shù)規(guī)范 |
中國中小企業(yè)協(xié)會
|
2023-12-31 |
現(xiàn)行 |
| T/HBZXL 008-2022 |
紅外金屬化窗片 |
河北省中小企業(yè)服務(wù)聯(lián).
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2022-08-15 |
現(xiàn)行 |