| 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) |
標(biāo)準(zhǔn)名稱 |
發(fā)布部門 |
實(shí)施日期 |
狀態(tài) |
| GB/T 10231-1988 |
保護(hù)繼電器的結(jié)構(gòu)型式與基本尺寸系列 |
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1990-01-01 |
作廢 |
| GB 10401-1989 |
永磁式直流力矩電動(dòng)機(jī)通用技術(shù)條件 |
機(jī)械電子工業(yè)部
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1989-09-01 |
作廢 |
| GB 11249-1989 |
鉬基鎢靶 |
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1990-01-01 |
作廢 |
| GB/T 12634-1990 |
壓電晶體電彈常數(shù)測(cè)試方法 |
國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
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1991-10-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 14126-1993 |
顯示管防眩玻屏技術(shù)要求及試驗(yàn)方法 |
國(guó)有技術(shù)監(jiān)督局
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1993-08-01 |
廢止 |
| GB/T 14128-1993 |
摻釹釔鋁石榴石激光棒尺寸系列 |
國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
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1993-08-01 |
作廢 |
| GB/T 14619-1993 |
厚膜集成電路用氧化鋁陶瓷基片 |
國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
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1993-01-02 |
作廢 |
| GB/T 14620-1993 |
薄膜集成電路用氧化鋁陶瓷基片 |
國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
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1993-01-02 |
作廢 |
| GB 4070-1983 |
熒光粉通用測(cè)試方法 |
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1984-11-01 |
作廢 |
| GB/T 4071-1983 |
光致熒光粉測(cè)試方法 |
信息產(chǎn)業(yè)部(電子)
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1984-11-01 |
廢止 |
| GB/T 4072-1983 |
陰極射線致熒光粉測(cè)試方法 |
信息產(chǎn)業(yè)部(電子)
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1984-11-01 |
廢止 |
| GB 4073-1983 |
熒光粉牌號(hào) |
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1984-11-01 |
作廢 |
| GB 4619-1984 |
扭曲向列型液晶顯示器件測(cè)試方法 |
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1985-05-01 |
作廢 |
| GB/T 4779.1-1984 |
彩色顯象管用熒光粉Y22-G3熒光粉 |
信息產(chǎn)業(yè)部(電子)
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1985-08-01 |
作廢 |
| GB/T 4779.2-1984 |
彩色顯象管用熒光粉Y22-B2熒光粉 |
信息產(chǎn)業(yè)部(電子)
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1985-08-01 |
作廢 |
| GB/T 4779.3-1984 |
彩色顯像管用熒光粉Y22-R4熒光粉 |
信息產(chǎn)業(yè)部(電子)
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1985-08-01 |
作廢 |
| GB 5592-1985 |
電子器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料的名稱和牌號(hào)的命名方法 |
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1986-12-01 |
作廢 |
| GB 5593-1985 |
電子器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料 |
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1986-12-01 |
作廢 |
| GB 5594.1-1985 |
電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法 氣密性測(cè)試方法 |
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局
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1986-12-01 |
現(xiàn)行 |
| GB 5594.2-1985 |
電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法 楊氏彈性模量 泊松比測(cè)試方法 |
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局
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1986-12-01 |
現(xiàn)行 |
| GB 5594.3-1985 |
電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法 平均線膨脹系數(shù)測(cè)試方法 |
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局
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1986-12-01 |
作廢 |
| GB 5594.4-1985 |
電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法 介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)試方法 |
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局
|
1986-12-01 |
作廢 |
| GB 5594.5-1985 |
電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法 體積電阻率測(cè)試方法 |
信息產(chǎn)業(yè)部(電子)
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1986-01-02 |
現(xiàn)行 |
| GB 5594.6-1985 |
電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法 化學(xué)穩(wěn)定性測(cè)試方法 |
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局
|
1986-12-01 |
作廢 |
| GB 5594.7-1985 |
電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法 透液性測(cè)定方法 |
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局
|
1986-12-01 |
作廢 |
| GB 5594.8-1985 |
電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法 顯微結(jié)構(gòu)的測(cè)定 |
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局
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1986-01-02 |
作廢 |
| GB 5595-1985 |
電容器用陶瓷介質(zhì)材料的分類及名稱和牌號(hào)的命名方法 |
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1986-12-01 |
作廢 |
| GB 5596-1985 |
電容器用陶瓷介質(zhì)材料 |
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1986-12-01 |
作廢 |
| GB 5597-1985 |
固體電介質(zhì)微波復(fù)介電常數(shù)的測(cè)試方法 |
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1986-12-01 |
作廢 |
| GB 5598-1985 |
氧化鈹瓷導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定方法 |
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局
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1986-12-01 |
作廢 |
| GB/T 5838-1986 |
熒光粉名詞術(shù)語(yǔ) |
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局
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1986-01-02 |
作廢 |
| GB 6358-1986 |
電子技術(shù)用玻璃名詞術(shù)語(yǔ) |
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1987-04-01 |
作廢 |
| GB 6359-1986 |
電子技術(shù)用玻璃的牌號(hào)命名方法 |
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1987-04-01 |
作廢 |
| GB 6453-1986 |
吸氣用鋯鋁合金復(fù)合帶材 |
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局
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1987-04-01 |
作廢 |
| GB 6454-1986 |
吸氣用鋯鋁合金環(huán)件和片件 |
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局
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1987-04-01 |
作廢 |
| GB 6455-1986 |
釋汞吸氣用復(fù)合帶材 |
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局
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1987-04-01 |
作廢 |
| GB/T 6625-1986 |
摻氮吸氣劑含氮量測(cè)試方法 |
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局
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1987-07-01 |
作廢 |
| GB 6626.1-1986 |
釋汞吸氣劑性能測(cè)試方法 釋汞吸氣劑釋汞特性的測(cè)試方法 |
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局
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1987-07-01 |
作廢 |
| GB 6626.2-1986 |
釋汞吸氣劑性能測(cè)試方法 釋汞吸氣劑含汞量的測(cè)試方法 |
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局
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1987-07-01 |
作廢 |
| GB 6626.3-1986 |
釋汞吸氣劑性能測(cè)試方法 釋汞吸氣劑放氣量的測(cè)試方法 |
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局
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1987-07-01 |
作廢 |