| 標準編號 |
標準名稱 |
發(fā)布部門 |
實施日期 |
狀態(tài) |
| GB 6991-1986 |
電子元氣件可靠性數(shù)據(jù)表示法 |
國家標準局
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1987-10-01 |
作廢 |
| GB 6992-1986 |
可靠性與維修性管理 |
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1987-10-01 |
作廢 |
| GB 6993-1986 |
系統(tǒng)和設(shè)備研制生產(chǎn)中的可靠性程序 |
國家標準局
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1987-10-01 |
作廢 |
| GB 7288.1-1987 |
設(shè)備可靠性試驗 推薦的試驗條件 室內(nèi)便攜設(shè)備-粗模擬 |
國家標準局
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1987-12-01 |
廢止 |
| GB 7288.2-1987 |
設(shè)備可靠性試驗 推薦的試驗條件 固定使用在有氣候防護場所設(shè)備-精模擬 |
國家標準局
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1987-12-01 |
廢止 |
| GB 7289-1987 |
可靠性、維修性與有效性預計報告編寫指南 |
國家標準局
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1987-12-01 |
廢止 |
| GB/T 7289-2017 |
電學元器件 可靠性 失效率的基準條件和失效率轉(zhuǎn)換的應力模型 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2018-05-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 7826-2012 |
系統(tǒng)可靠性分析技術(shù) 失效模式和影響分析（FMEA）程序 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2013-02-15 |
現(xiàn)行 |
| GB 9414.1-1988 |
設(shè)備維修性導則 第一部分:維修性導言 |
郵電部
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1989-05-01 |
作廢 |
| GB/T 9414.1-2012 |
維修性 第1部分：應用指南 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2013-06-01 |
現(xiàn)行 |
| GB/T 9414.2-1988 |
設(shè)備維修性導則 第二部分:規(guī)范與合同中的維修性要求 |
郵電部
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1989-05-01 |
作廢 |
| GB 9414.3-1988 |
設(shè)備維修性導則 第三部分:維修性大綱 |
電子工業(yè)部
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1988-12-01 |
作廢 |
| GB 9414.4-1988 |
設(shè)備維修性導則 第五部分:設(shè)計階段的維修性研究 |
電子工業(yè)部
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1988-12-01 |
作廢 |
| GB 9414.5-1988 |
設(shè)備維修性導則 第六部分:維修性檢驗 |
信息產(chǎn)業(yè)部（電子）
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1988-12-01 |
作廢 |
| GB 9414.6-1988 |
設(shè)備維修性導則 第七部分:維修性數(shù)據(jù)的收集、分析與表示 |
電子工業(yè)部
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1988-12-01 |
作廢 |
| GB/T 9414.7-2000 |
設(shè)備維修性導則 第四部分：診斷測試 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2001-03-01 |
作廢 |
| GB/T 9414.8-2001 |
設(shè)備維修性導則 第九部分：維修性評價的統(tǒng)計方法 |
國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
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2001-06-01 |
廢止 |
| GB/T 9414.9-2017 |
維修性 第9部分：維修和維修保障 |
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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2018-07-01 |
現(xiàn)行 |
| SJ/T 10345.1-1993 |
壽命試驗用表最好線性無偏估計用表(極值分布) |
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2003-10-01 |
作廢 |
| SJ/T 10345.2-1993 |
壽命試驗用表簡單線性無偏估計用表(極值分布) |
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2003-10-01 |
作廢 |
| SJ/T 10345.3-1993 |
壽命試驗用表最好線性無偏估計用表(正態(tài)分布) |
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1998-05-01 |
作廢 |
| SJ/T 10345.4-1993 |
壽命試驗用表簡單線性無偏估計用表(正態(tài)分布) |
|
1998-05-01 |
作廢 |
| SJ/T 10345.5-1993 |
壽命試驗用表r(1+1/m)數(shù)值表 |
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1998-05-01 |
作廢 |
| SJ 2128-1982 |
電子產(chǎn)品現(xiàn)場工作可靠性、有效性和維修性數(shù)據(jù)收集指南 |
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2003-03-01 |
作廢 |
| SJ/Z 2448-1984 |
可靠性計數(shù)抽樣程序和表(威布爾分布) |
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2000-07-01 |
作廢 |
| SJ/T 31002-1994 |
設(shè)備維護保養(yǎng)通則 |
工業(yè)和信息化部
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2003-10-01 |
作廢 |
| T/CIE 144-2022 |
半導體器件可靠性強化試驗方法 |
中國電子學會
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2023-01-31 |
現(xiàn)行 |
| T/CIE 148-2022 |
阻變存儲單元電學測試規(guī)范 |
中國電子學會
|
2023-01-31 |
現(xiàn)行 |
| T/CIE 150-2022 |
現(xiàn)場可編程門陣列（FPGA）芯片時序可靠性測試規(guī)范 |
中國電子學會
|
2023-01-31 |
現(xiàn)行 |
| WH/T 56-2013 |
手機（移動終端）動漫用戶服務(wù)規(guī)范 |
文化部
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2013-05-01 |
現(xiàn)行 |