關(guān)于批準(zhǔn)發(fā)布GB/T 18858.3-2012《低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備控制器-設(shè)備接口(CDI)第3部分:DeviceNet》
國家標(biāo)準(zhǔn)第1號修改單的公告
國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會批準(zhǔn)發(fā)布GB/T 18858.3-2012《低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備 控制器-設(shè)備接口(CDI)
第3部分:DeviceNet》國家標(biāo)準(zhǔn)第1號修改單,自2015年7月1日起實(shí)施,現(xiàn)予以公布(見附件)。
國家標(biāo)準(zhǔn)委
2014年12月12日
附件:
GB/T 18858.3-2012《低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備 控制器-設(shè)備接口(CDI) 第3部分:DeviceNet》
國家標(biāo)準(zhǔn)第1號修改單
一、8.9.2.1中的“標(biāo)準(zhǔn)A”修改為:
判據(jù)A:設(shè)備在試驗(yàn)過程中及試驗(yàn)結(jié)束后應(yīng)可持續(xù)按預(yù)期方式運(yùn)行,表56所示的任意性能退化狀況應(yīng)視為試驗(yàn)失敗。
二、8.9.2.1中的“標(biāo)準(zhǔn)B”修改為:
判據(jù)B:在試驗(yàn)過程中,不允許實(shí)際操作狀態(tài)及存貯的數(shù)據(jù)變化,表56所示的任意性能退化狀況均應(yīng)視為試驗(yàn)失敗,設(shè)備在試驗(yàn)結(jié)束后應(yīng)可持續(xù)按預(yù)期方式運(yùn)行。
三、表56中“>1出錯位置位/10次傳送”修改為:
“>1出錯位置位/10次傳送(幀)”