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標準編號：SJ 2354.14-1983	標準狀態(tài)：已作廢

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標準簡介


英文名稱：	Method of measurement for excess noise factor of PIN and avalanche photodiodes
標準狀態(tài)：	已作廢
替代情況：	被SJ/T 2354-2015代替
中標分類：	能源、核技術(shù)>>能源、核技術(shù)綜合>>F01技術(shù)管理
ICS分類：	電子學(xué)>>31.260光電子學(xué)、激光設(shè)備
發(fā)布日期：	1983-08-15
實施日期：	1984-07-01
作廢日期：	2015-10-01
頁數(shù)：	1頁

技術(shù)管理相關(guān)標準	第1頁第2頁第3頁第4頁第5頁更多>>
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光電子學(xué)、激光設(shè)備相關(guān)標準	第1頁第2頁第3頁
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