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無(wú)損檢測(cè) 磁粉檢測(cè)用試片

標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):JB/T 6065-2004 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):已廢止
標(biāo)準(zhǔn)價(jià)格:10.0 客戶(hù)評(píng)分:星星星星1
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標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了磁粉檢測(cè)用試片(或靈敏度試片)的分類(lèi)、技術(shù)要求和檢驗(yàn)方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于試片的型式檢驗(yàn)和出廠檢驗(yàn)。本標(biāo)準(zhǔn)也可作為用戶(hù)訂貨的驗(yàn)收依據(jù)。
英文名稱(chēng):  Non-destructive testing—Shims for magnetic particle testing
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):  已廢止
什么是替代情況? 替代情況:  JB/T 6065-1992
什么是中標(biāo)分類(lèi)? 中標(biāo)分類(lèi):  機(jī)械>>機(jī)械綜合>>J04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
什么是ICS分類(lèi)?  ICS分類(lèi):  試驗(yàn)>>19.100無(wú)損檢測(cè)
發(fā)布部門(mén):  中華人民共和國(guó)國(guó)家發(fā)展和改革委員會(huì)
發(fā)布日期:  2004-06-17
實(shí)施日期:  2004-11-01
作廢日期:  2011-08-15
提出單位:  中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)
什么是歸口單位? 歸口單位:  全國(guó)無(wú)損檢測(cè)標(biāo)委會(huì)
起草單位:  上海材料研究所
起草人:  金宇飛、周九九等
批文號(hào):  發(fā)改委2004-30
頁(yè)數(shù):  11頁(yè)
出版社:  機(jī)械工業(yè)出版社
書(shū)號(hào):  15111.7384
出版日期:  2004-11-01
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