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| 英文名稱： |
Non-destructive testing―Terminology―Part 10:Magnetic memory testing |
 替代情況： |
替代GB/T 12604.10-2011 |
| 中標(biāo)分類： |
機械>>機械綜合>>J04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法 |
| ICS分類： |
試驗>>19.100無損檢測 |
| 發(fā)布部門： |
國家市場監(jiān)督管理總局 國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會 |
| 發(fā)布日期： |
2023-05-23 |
| 實施日期： |
2023-05-23
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| 提出單位： |
全國無損檢測標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 56) |
| 歸口單位： |
全國無損檢測標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 56) |
| 起草單位： |
愛德森(廈門)電子有限公司、上海材料研究所有限公司、中國特種設(shè)備檢測研究院、中國科學(xué)院金屬研究所、國家能源集團科學(xué)技術(shù)研究院 、南昌航空大學(xué)、中國鐵道科學(xué)研究院集團有限公司金屬及化學(xué)研究所、中國人民解放軍陸軍裝甲兵學(xué)院、清華大學(xué)等 |
| 起草人： |
林俊明、沈功田、蔡桂喜、胡先龍、丁杰、宋凱、董世運、黃松嶺、黃鳳英、曾志偉、胡斌、戴永紅 |
| 頁數(shù)： |
【彩圖】 |
| 出版社： |
中國標(biāo)準(zhǔn)出版社 |