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| 英文名稱： |
Test method for parameters of thermoelectric terahertz detector |
 中標(biāo)分類： |
電子元器件與信息技術(shù)>>光電子器件>>L50光電子器件組合 |
| ICS分類： |
計(jì)量學(xué)和測量、物理現(xiàn)象>>光學(xué)和光學(xué)測量>>17.180.99有關(guān)光學(xué)和光學(xué)測量的其他標(biāo)準(zhǔn) |
| 發(fā)布部門： |
國家市場監(jiān)督管理總局 國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會 |
| 發(fā)布日期： |
2023-12-28 |
| 實(shí)施日期： |
2024-07-01
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| 提出單位： |
中國科學(xué)院 |
| 歸口單位： |
全國光電測量標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 487) |
| 起草單位： |
中電科思儀科技股份有限公司、中國電子科技集團(tuán)公司第四十一研究所、中國科學(xué)院空天信息創(chuàng)新研究院、南京大學(xué)、中國計(jì)量科學(xué)研究院、中國科學(xué)院長春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所、桂林電子科技大學(xué)、中國計(jì)量大學(xué) |
| 起草人： |
張鵬、劉志明、姜萬順、盧永紅、涂學(xué)湊、高涵、王璞、尹炳琪、孫青、康琳、吳斌、劉紅元、于新升、姜玥、賈小氫、鄧玉強(qiáng)、李俊霖、韓家廣、占春連 |
| 頁數(shù)： |
20頁 |
| 出版社： |
中國標(biāo)準(zhǔn)出版社 |