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| 英文名稱： |
Nanotechnology—Measurement of defect concentration of graphene—Raman spectroscopy method |
 中標分類： |
化工>>合成材料>>G30合成材料綜合 |
| ICS分類： |
化工技術(shù)>>分析化學(xué)>>71.040.50物理化學(xué)分析方 |
| 發(fā)布部門： |
國家市場監(jiān)督管理總局 國家標準化管理委員會 |
| 發(fā)布日期： |
2023-11-27 |
| 實施日期： |
2024-06-01
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| 提出單位： |
中國科學(xué)院 |
| 歸口單位： |
全國納米技術(shù)標準化技術(shù)委員會(SAC/TC 279) |
| 起草單位： |
泰州石墨烯研究檢測平臺有限公司、東南大學(xué)、中國科學(xué)院大連化學(xué)物理研究所、廈門凱納石墨烯技術(shù)股份有限公司、廣東德瑞源新材料科技有限公司、泰州巨納新能源有限公司、江南大學(xué)、哈爾濱工業(yè)大學(xué)(威海)、紹興文理學(xué)院、上海海洋大學(xué)、上海巨納科技有限公司 |
| 起草人： |
倪振華、呂俊鵬、梁錚、章琦、吳忠?guī)洝O學(xué)棟、丁榮、南海燕、郭丁立、洪江彬、王英英、方崇卿、梁奇鋒、梁賀君、袁文軍 |
| 頁數(shù)： |
28頁【彩圖】 |
| 出版社： |
中國標準出版社 |