無損檢測 低功率微焦點X射線數(shù)字成像檢測方法 |
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| 標(biāo)準(zhǔn)編號:JB/T 13465-2018 |
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行 |
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| 標(biāo)準(zhǔn)價格:18.0 元 |
客戶評分:     |
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本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了輸出功率小于100W且焦點尺寸小于100微米的X射線源發(fā)出的X射線數(shù)字成像檢測方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于檢測半導(dǎo)體、新能源、電子制造等領(lǐng)域的金屬和非金屬材料。 |
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| 發(fā)布部門: |
工業(yè)和信息化部 |
| 發(fā)布日期: |
2018-04-30 |
| 實施日期: |
2018-12-01
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| 出版社: |
機(jī)械工業(yè)出版社 |
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