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標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)：SJ 20635-1997	標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

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標(biāo)準(zhǔn)簡介


英文名稱：	Test method for residual impurities concentration in microzone of semi-insulating gallium arsenide
中標(biāo)分類：	>>>>L5971
發(fā)布日期：	1997-06-17
實(shí)施日期：	1997-10-01
頁數(shù)：	15頁
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