電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) HEMP傳導(dǎo)騷擾保護(hù)裝置的試驗(yàn)方法 |
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| 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)：GB/T 17626.24-2012 |
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行 |
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| 標(biāo)準(zhǔn)價(jià)格：33.0 元 |
客戶評(píng)分：  |
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本標(biāo)準(zhǔn)有現(xiàn)貨可當(dāng)天發(fā)貨一線城市最快隔天可到！ |
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GB/T17626的本部分規(guī)定了高空電磁脈沖(HEMP)傳導(dǎo)騷擾保護(hù)裝置的試驗(yàn)方法。它主要包括
電壓擊穿和電壓限制特性的試驗(yàn),以及在HEMP條件下,電壓(u)和電流(i)作為時(shí)間函數(shù)快速變化時(shí)
的殘余電壓的測(cè)量方法。 |
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| 英文名稱： |
Electromagnetic compatibility - Testing and measurement techniques - Test methods for protective devices for HEMP conducted disturbance |
 中標(biāo)分類： |
電子元器件與信息技術(shù)>>電子元器件與信息技術(shù)綜合>>L06電磁兼容 |
| ICS分類： |
電信、音頻和視頻技術(shù)>>33.100電磁兼容性(EMC) |
| 采標(biāo)情況： |
IEC 61000-4-24:1997 |
| 發(fā)布部門： |
中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì) |
| 發(fā)布日期： |
2012-11-05 |
| 實(shí)施日期： |
2013-02-01
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| 歸口單位： |
全國(guó)電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì) |
| 主管部門： |
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì) |
| 起草單位： |
中國(guó)電力科學(xué)研究院、國(guó)網(wǎng)電力科學(xué)研究院 |
| 起草人： |
鄔雄、萬(wàn)保權(quán)、張建功、張廣洲、李妮、張澤平 |
| 頁(yè)數(shù)： |
12頁(yè) |
| 出版社： |
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社 |
| 出版日期： |
2013-02-01 |
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GB/T17626《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)》分為以下幾個(gè)部分:
GB/T17626.1—2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 抗擾度試驗(yàn)總論
GB/T17626.2—2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗(yàn)
GB/T17626.3—2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)
GB/T17626.4—2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)
GB/T17626.5—2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)
GB/T17626.6—2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度
GB/T17626.7—2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波、諧間波的測(cè)量和測(cè)量?jī)x器導(dǎo)則
GB/T17626.8—2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 工頻磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)
GB/T17626.9—2011 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 脈沖磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)
GB/T17626.10—1998 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 阻尼振蕩磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)
GB/T17626.11—2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)
GB/T17626.12—1998 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 振蕩波抗擾度試驗(yàn)
GB/T17626.13—2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 交流電源端口諧波、諧間波及電網(wǎng)信號(hào)的低頻抗擾度試驗(yàn)
GB/T17626.14—2005 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電壓波動(dòng)抗擾度試驗(yàn)
GB/T17626.15—2011 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 閃爍儀 功能和設(shè)計(jì)規(guī)范
GB/T17626.16—2007 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 0Hz~150kHz共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)
GB/T17626.17—2005 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗(yàn)
GB/T17626.24—2012 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) HEMP傳導(dǎo)騷擾保護(hù)裝置的試驗(yàn)方法
GB/T17626.27—2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 三相電壓不平衡抗擾度試驗(yàn)
GB/T17626.28—2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 工頻頻率變化抗擾度試驗(yàn)
GB/T17626.29—2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 直流電源輸入端口電壓暫降、短時(shí)中斷和
電壓變化的抗擾度試驗(yàn)
GB/T17626.30—2012 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電能質(zhì)量測(cè)量方法
本部分為GB/T17626的第24部分。
本部分按照GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。
本部分等同采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-24:1997《電磁兼容(EMC) 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 第4-24部分:HEMP傳導(dǎo)騷擾保護(hù)裝置的試驗(yàn)方法》。
本部分由全國(guó)電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC246)歸口。
本部分負(fù)責(zé)起草單位:中國(guó)電力科學(xué)研究院。
本部分參與起草單位:國(guó)網(wǎng)電力科學(xué)研究院。
本部分主要起草人:鄔雄、萬(wàn)保權(quán)、張建功、張廣洲、李妮、張澤平。 |
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GB/T4365—2003 電工術(shù)語(yǔ) 電磁兼容(IEC60050(161):1990,IDT) |
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