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無損檢測儀器 工業(yè)用X射線CT裝置通用技術(shù)條件

國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):GB/T 26835-2011 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行
標(biāo)準(zhǔn)價(jià)格:44.0 客戶評(píng)分:星星星星1
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標(biāo)準(zhǔn)簡介
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了工業(yè)用X射線CT裝置(以下簡稱CT 裝置)的術(shù)語和定義、基本結(jié)構(gòu)、要求、性能參數(shù)、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和貯存等。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于采用X射線管的低能X射線源和采用電子直線加速器的高能X射線源的固定式和移動(dòng)式工業(yè)用X射線CT裝置。
英文名稱:  Non-destructive testing instruments—General specification for industrial X-ray computed tomography(CT) equipment
什么是中標(biāo)分類? 中標(biāo)分類:  儀器、儀表>>試驗(yàn)機(jī)與無損探傷儀器>>N78X射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器
什么是ICS分類?  ICS分類:  試驗(yàn)>>19.100無損檢測
發(fā)布部門:  中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
發(fā)布日期:  2011-07-29
實(shí)施日期:  2011-12-01
首發(fā)日期:  2011-07-29
提出單位:  中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)
什么是歸口單位? 歸口單位:  全國試驗(yàn)機(jī)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 122)
主管部門:  全國試驗(yàn)機(jī)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 122)
起草單位:  遼寧儀表研究所、中國工程物理研究院電子學(xué)研究所等
起草人:  武太峰、于志軍、陳浩、董殿剛、邵德峰、向前、張宏、樊永峰
頁數(shù):  20頁
出版社:  中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
出版日期:  2011-12-01
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前言
本標(biāo)準(zhǔn)按照GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。
本標(biāo)準(zhǔn)由中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國試驗(yàn)機(jī)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC122)歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位:遼寧儀表研究所、中國工程物理研究院電子學(xué)研究所。
本標(biāo)準(zhǔn)參加起草單位:丹東市無損檢測設(shè)備有限公司、丹東華日理學(xué)電氣有限公司、四川瑞迪射線數(shù)字影像技術(shù)有限公司、丹東市萬全無損檢測儀器廠、丹東市探傷儀器廠。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:武太峰、于志軍、陳浩、董殿剛、邵德峰、向前、張宏、樊永峰。
目錄
前言 Ⅰ
1 范圍 1
2 規(guī)范性引用文件 1
3 術(shù)語和定義 1
4 基本結(jié)構(gòu) 2
5 要求 2
5.1 試件范圍 2
5.2 檢測時(shí)間 2
5.3 切片厚度 2
5.4 重建矩陣 2
5.5 缺陷檢測能力 2
6 性能參數(shù) 2
6.1 焦點(diǎn) 2
6.2 射線劑量率 2
6.3 空間分辨力 2
6.4 密度分辨率 2
6.5 定位光標(biāo)準(zhǔn)確度 2
7 試驗(yàn)方法 3
7.1 空間分辨力測試 3
7.2 密度分辨率測試 4
7.3 定位光標(biāo)準(zhǔn)確度測定 5
8 檢驗(yàn)規(guī)則 5
8.1 出廠產(chǎn)品檢驗(yàn) 5
8.2 型式檢驗(yàn) 5
9 標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和貯存 6
9.1 標(biāo)志 6
9.2 包裝 6
9.3 運(yùn)輸和貯存 7
附錄A (規(guī)范性附錄) 圓孔型測試卡法測試空間分辨力 8
附錄B(資料性附錄) 圓盤法測試的算法流程 10
參考文獻(xiàn) 15
引用標(biāo)準(zhǔn)
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GB/T191 包裝儲(chǔ)運(yùn)圖示標(biāo)志(GB/T191—2008,ISO780:1997,MOD)
GB/T12604.2—2005 無損檢測 術(shù)語 射線照相檢測(ISO5576:1997,IDT)
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