下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),然而,鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
GB/T2423.1—2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫(IEC60068-2-1:2007,Environmentaltesting—Part2-1:Tests—TestA:Cold,IDT)
GB/T2423.2—2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫(IEC60068-2-2:2007,Environmentaltesting—Part2-2:Tests—TestB:Dryheat,IDT)
GB/T2423.3—2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)
(IEC60068-2-78:2001,Environmentaltesting—Part2-78:Tests—TestCab:Dampheat,steadystate,IDT)
GB/T2423.6—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則:碰撞(idtIEC60068-2-29:1987)
GB/T2423.22—2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化(IEC60068-2-14:1984,Basicenvironmentaltestingprocedures—Part2:Tests—TestN:Changeoftemperature,IDT)
GB4208—2008 外殼防護(hù)等級(jí)(IP代碼)(eqvIEC60529:2001,IDT)
GB/T4776—2008 電氣安全術(shù)語
GB/T5095.2—1997 電子設(shè)備用機(jī)電元件 基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法 第2部分:一般檢查、電連續(xù)性、接觸電阻測(cè)試、絕緣試驗(yàn)和電壓應(yīng)力試驗(yàn)(idtIEC60512-2:1994)
GB/T5095.3—1997 電子設(shè)備用機(jī)電元件 基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法 第3部分:載流容量試驗(yàn)(idtIEC60512-3:1976)
GB/T5095.5—1997 電子設(shè)備用機(jī)電元件 基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法 第5部分:撞擊試驗(yàn)(自由元件)、靜負(fù)荷試驗(yàn)(固定元件)、壽命試驗(yàn)和過負(fù)荷試驗(yàn)(idtIEC60512-5:1992)
GB/T5095.6—1997 電子設(shè)備用機(jī)電元件 基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法 第6部分:氣候試驗(yàn)和錫焊試驗(yàn)(idtIEC60512-6:1984)
GB/T5095.7—1997 電子設(shè)備用機(jī)電元件 基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法 第7部分:機(jī)械操作試驗(yàn)和密封性試驗(yàn)(idtIEC60512-7:1993)
GB/T5095.8—1997 電子設(shè)備用機(jī)電元件 基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法 第8部分:連接器、接觸件及引出端的機(jī)械試驗(yàn)(idtIEC60512-8:1993)
GB/T11313—1996 射頻連接器 第1部分:總規(guī)范 一般要求和試驗(yàn)方法(idtIEC61169-1:1992)
GB/T21413.1—2008 鐵路應(yīng)用 機(jī)車車輛電氣設(shè)備 第1部分: 一般使用條件和通用規(guī)則 |
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