半導(dǎo)體發(fā)光二極管測試方法 |
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| 標準編號：SJ/T 11394-2009 |
標準狀態(tài)：現(xiàn)行 |
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| 標準價格：65.0 元 |
客戶評分：  |
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立即購買工即可享受本標準狀態(tài)變更提醒服務(wù)！ |
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主要規(guī)定了半導(dǎo)體發(fā)光二極管電特性測試方法、光特性測試方法、光電特性測試方法、顏色特性測試方法、熱學(xué)特性測試方法和靜電放電敏感性測試方法等。 |
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 替代情況： |
替代SJ/T 2355.1-1983~SJ/T 2355.7-1983 |
| 發(fā)布部門： |
工業(yè)和信息化部 |
| 發(fā)布日期： |
2009-11-17 |
| 實施日期： |
2010-01-01
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| 歸口單位： |
工業(yè)和信息化部電子工業(yè)標準化研究所 |
| 起草單位： |
中國光學(xué)光電子行業(yè)協(xié)會光電器件分會 |
| 起草人： |
鮑超 |
| 頁數(shù)： |
30頁 |
| 出版社： |
電子工業(yè)出版社 |
| 出版日期： |
2010-01-01 |
| 標準前頁： |
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