本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T 13179-1991《硅(鋰)X 射線探測器系統(tǒng)》。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了硅(鋰)X射線探測器系統(tǒng)的產(chǎn)品分類、技術(shù)要求、試驗方法和檢測規(guī)則等。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于帶有液氮貯存容器的室內(nèi)用硅(鋰)X射線探測器系統(tǒng),但不適用于掃描電鏡的、便攜式或非液氮冷卻硅(鋰)X射線探測器系統(tǒng)。 狀態(tài):現(xiàn)行">
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硅(鋰)X射線探測器系統(tǒng)

國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)編號:GB/T 13179-2008 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行
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標(biāo)準(zhǔn)簡介
本標(biāo)準(zhǔn)參照了IEC 60759:1983《半導(dǎo)體X 射線能譜儀標(biāo)準(zhǔn)測試程序》。
本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T 13179-1991《硅(鋰)X 射線探測器系統(tǒng)》。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了硅(鋰)X射線探測器系統(tǒng)的產(chǎn)品分類、技術(shù)要求、試驗方法和檢測規(guī)則等。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于帶有液氮貯存容器的室內(nèi)用硅(鋰)X射線探測器系統(tǒng),但不適用于掃描電鏡的、便攜式或非液氮冷卻硅(鋰)X射線探測器系統(tǒng)。
英文名稱:  Si(Li)X-ray detector system
什么是替代情況? 替代情況:  替代GB/T 13179-1991
什么是中標(biāo)分類? 中標(biāo)分類:  能源、核技術(shù)>>核儀器與核探測器>>F88核探測器
什么是ICS分類?  ICS分類:  能源和熱傳導(dǎo)工程>>27.120核能工程
什么是采標(biāo)情況? 采標(biāo)情況:  IEC 60759-1983,NEQ
發(fā)布部門:  中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
發(fā)布日期:  2008-07-02
實施日期:  2009-04-01
首發(fā)日期:  1991-04-11
提出單位:  中國核工業(yè)集團(tuán)公司
什么是歸口單位? 歸口單位:  全國核儀器儀表標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
主管部門:  全國核儀器儀表標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
起草單位:  中核(北京)核儀器廠
起草人:  殷國利
計劃單號:  20061774-T-307
頁數(shù):  24頁
出版社:  中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
出版日期:  2009-04-01
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前言
本標(biāo)準(zhǔn)參照了IEC60759:1983《半導(dǎo)體X 射線能譜儀標(biāo)準(zhǔn)測試程序》。
本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T13179-1991《硅(鋰)X 射線探測器系統(tǒng)》。
本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T13179-1991相比主要差異如下:
---增加了硅(鋰)X 射線探測器系統(tǒng)和峰谷比等19個術(shù)語以及犆c等12個符號(見本標(biāo)準(zhǔn)第3章);
---產(chǎn)品的特征代號增加了兩位表示靈敏體直徑(見本標(biāo)準(zhǔn)的4.1);
---在表1硅(鋰)X 射線探測器系統(tǒng)產(chǎn)品規(guī)格表中,增加了一欄靈敏直徑的條目(見本標(biāo)準(zhǔn)的4.2);
---表1中的能量分辨率每檔均降低5eV(見本標(biāo)準(zhǔn)的4.2);
---充實了試驗方法的內(nèi)容(見本標(biāo)準(zhǔn)第6章)。
本標(biāo)準(zhǔn)附錄A 為資料性附錄。
本標(biāo)準(zhǔn)由中國核工業(yè)集團(tuán)公司提出。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國核儀器儀表標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:中核(北京)核儀器廠。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:殷國利。
本標(biāo)準(zhǔn)所替代標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:GB/T13179-1991 。
目錄
前言Ⅰ
1 范圍1
2 規(guī)范性引用文件1
3 術(shù)語和定義以及符號1
4 產(chǎn)品分類3
5 技術(shù)要求5
6 試驗方法6
7 檢驗規(guī)則15
8 標(biāo)識、包裝、運輸、貯存16
附錄A(資料性附錄) 從X 能量分辨率計算電噪聲近似值的方法18
參考文獻(xiàn)19
圖1 端帽尺寸圖4
圖2 總體外型結(jié)構(gòu)圖5
圖3 被測特性的基本測量系統(tǒng)7
圖4 典型的噪聲測量脈沖幅度譜8
圖5 用示波器和均方根電壓表測噪聲的測量系統(tǒng)9
圖6 線性的測量和表示13
圖7 溫度效應(yīng)的測量系統(tǒng)(以能譜儀為例) 14
表1 硅(鋰)X 射線探測器系統(tǒng)產(chǎn)品規(guī)格表4
表2 (真空)冷室及端帽分類5
表3 不同靈敏面積探測器的峰谷比要求6
表4 參考條件和標(biāo)準(zhǔn)試驗條件6
表5 測量常用放射源10
表6 檢驗項目分類及要求16
表7 抽樣方案表16
引用標(biāo)準(zhǔn)
下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),然而,鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
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