電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備 |
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| 標(biāo)準(zhǔn)編號：GB/T 5170.2-2008 |
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：已作廢 |
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| 標(biāo)準(zhǔn)價格：26.0 元 |
客戶評分：  |
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本部分規(guī)定了溫度(含低溫、高溫和溫度變化)試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T 2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫》、GB/T 2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫》和GB/T 2423.22《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化》所用試驗(yàn)設(shè)備的首次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。 本部分代替ＧＢ／Ｔ５１７０．２—１９９６。與ＧＢ／Ｔ５１７０．２—１９９６相比，技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化：———標(biāo)準(zhǔn)名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備”；
———所有用詞“檢定”更改為“檢驗(yàn)”；
———增加了“術(shù)語和定義”一章；
———增加了“溫度波動度”檢驗(yàn)項(xiàng)目；
———增加了“溫度均勻度”檢驗(yàn)項(xiàng)目；
———增加了“每５ｍｉｎ溫度平均變化速率”檢驗(yàn)項(xiàng)目；
———增加了“溫度指示誤差”檢驗(yàn)項(xiàng)目；
———增加了“溫度過沖量”檢驗(yàn)項(xiàng)目；
———增加了“溫度過沖恢復(fù)時間”檢驗(yàn)項(xiàng)目；
———增加了“噪聲”檢驗(yàn)項(xiàng)目；
———刪除了“相對濕度”檢驗(yàn)項(xiàng)目；
———在“檢驗(yàn)用主要儀器及要求”一章中，給出了溫度測量系統(tǒng)其測量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度（k＝２）的要求
———增加了“檢驗(yàn)負(fù)載”一章；
———修改了“溫度變化速率”的計(jì)算方法；
———測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù)；
———刪除了“檢定過程中的處理”部分；
———附錄Ａ“測量記錄表格示例”更改為“檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇”；
———刪除了附錄Ｂ “溫度波動度、溫度均勻度檢定方法”。 |
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| 英文名稱： |
Inspection methods for environmental testing equipments for electric and electronic products - Temperature testing equipments |
| 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)： |
已作廢 |
 替代情況： |
替代GB/T 5170.2-1996;被GB/T 5170.2-2017代替 |
| 中標(biāo)分類： |
電工>>電工綜合>>K04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法 |
| ICS分類： |
試驗(yàn)>>19.040環(huán)境試驗(yàn) |
| 發(fā)布部門： |
中國電器工業(yè)協(xié)會 |
| 發(fā)布日期： |
2008-06-16 |
| 實(shí)施日期： |
2009-03-01
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| 作廢日期： |
2018-07-01
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| 首發(fā)日期： |
1985-05-07 |
| 提出單位： |
全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 8) |
| 歸口單位： |
全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會 |
| 主管部門： |
全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 8) |
| 起草單位： |
信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所 |
| 起草人： |
伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良 |
| 計(jì)劃單號： |
20061479-T-604 |
| 頁數(shù)： |
13頁 |
| 出版社： |
中國標(biāo)準(zhǔn)出版社 |
| 出版日期： |
2009-03-01 |
| 標(biāo)準(zhǔn)前頁： |
瀏覽標(biāo)準(zhǔn)前文 || 下載標(biāo)準(zhǔn)前頁 |
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GB/T5170目前包含以下幾部分:
---GB/T5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
---GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
---GB/T5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備
---GB/T5170.8-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 鹽霧試驗(yàn)設(shè)備
---GB/T5170.9-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備
---GB/T5170.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備
---GB/T5170.11-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備
---GB/T5170.13-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(正弦)試驗(yàn)用機(jī)械振動臺
---GB/T5170.14-1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(正弦)試驗(yàn)用電動振動臺
---GB/T5170.15-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(正弦)試驗(yàn)用液壓振動臺
---GB/T5170.16-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)用離心機(jī)
---GB/T5170.17-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備
---GB/T5170.18-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備
---GB/T5170.19-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/振動(正弦)綜合試驗(yàn)設(shè)備
---GB/T5170.20-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 水試驗(yàn)設(shè)備
本部分是GB/T5170的第2部分。
本部分代替GB/T5170.2-1996。與GB/T5170.2-1996相比,技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化:
---標(biāo)準(zhǔn)名稱電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備更改為電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備;
---所有用詞檢定更改為檢驗(yàn);
---增加了術(shù)語和定義一章;
---增加了溫度波動度檢驗(yàn)項(xiàng)目;
---增加了溫度均勻度檢驗(yàn)項(xiàng)目;
---增加了每5min溫度平均變化速率檢驗(yàn)項(xiàng)目;
---增加了溫度指示誤差檢驗(yàn)項(xiàng)目;
---增加了溫度過沖量檢驗(yàn)項(xiàng)目;
---增加了溫度過沖恢復(fù)時間檢驗(yàn)項(xiàng)目;
---增加了噪聲檢驗(yàn)項(xiàng)目;
---刪除了相對濕度檢驗(yàn)項(xiàng)目;
---在檢驗(yàn)用主要儀器及要求一章中,給出了溫度測量系統(tǒng)其測量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度(k=2)的要求;
---增加了檢驗(yàn)負(fù)載一章;
---修改了溫度變化速率的計(jì)算方法;
---測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù);
---刪除了檢定過程中的處理部分;
---附錄A測量記錄表格示例更改為檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇;
---刪除了附錄B 溫度波動度、溫度均勻度檢定方法。
附錄A 為規(guī)范性附錄。
本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC8)提出并歸口。
本部分起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。
本部分主要起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良。
本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:
---GB/T5170.2-1985,GB/T5170.3-1985,GB/T5170.4-1985;
---GB/T5170.2-1996。 |
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前言Ⅲ
1 范圍1
2 規(guī)范性引用文件1
3 術(shù)語和定義1
4 檢驗(yàn)項(xiàng)目1
5 檢驗(yàn)用主要儀器及要求2
6 檢驗(yàn)負(fù)載2
7 檢驗(yàn)條件2
8 檢驗(yàn)方法2
9 數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果7
10 檢驗(yàn)周期7
附錄A (規(guī)范性附錄) 檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇8 |
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下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分。
GB/T2423.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫(GB/T2423.1-2001,idtIEC60068-2-1:1990)
GB/T2423.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫(GB/T2423.2-2001,idtIEC60068-2-2:1974)
GB/T2423.22 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化(GB/T2423.22-2002,IEC60068-2-14:1984,IDT)
GB/T2424.5 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)(GB/T2424.5-2006,IEC60068-3-5:2001,IDT)
GB/T5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
GB/T16839.1 熱電偶 第1部分:分度表(GB/T16839.1-1997,idtIEC60584-1:1995)
IEC60751 工業(yè)鉑電阻敏感元件 |
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