本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T11606.1~11606.17-1989《分析儀器環(huán)境試驗(yàn)方法》總則、電源頻率與電壓試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)、高溫試驗(yàn)、溫度變化試驗(yàn)、恒定濕熱試驗(yàn)、交變濕熱試驗(yàn)、振動(dòng)試驗(yàn)、磁場(chǎng)試驗(yàn)、氣壓試驗(yàn)、沙塵試驗(yàn)、長(zhǎng)霉試驗(yàn)、鹽霧試驗(yàn)、低溫貯存試驗(yàn)、_高溫貯存試驗(yàn)、跌落試驗(yàn)、碰撞試驗(yàn)各部分內(nèi)容。
本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T11606.1~11606.17-1989相比主要變化如下:
---將原GB/T11606中試驗(yàn)改為條件試驗(yàn);試驗(yàn)方法改為試驗(yàn)程序。
---將原GB/T11606.1中主題內(nèi)容和適用范圍改為范圍,取消原不適用部分;修改了表1中規(guī)定的溫度、相對(duì)濕度、振動(dòng)、電源頻率的允差和運(yùn)輸貯存等有關(guān)值。
---修改了原GB/T11606.2中電源頻率的允差為額定值的±2%;增加試驗(yàn)程序2電壓與頻率組合。
---原GB/T11606.3~11606.8、GB/T11606.14~11606.15中第2章標(biāo)題改為試驗(yàn)分組及表中內(nèi)容與總則中規(guī)定一致。
---修改了原GB/T11606.3~11606.4中試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間,取消1h擋,增加8h、16h兩擋;原第4章取消,其內(nèi)容歸入第3章中;修改了原5.3中將儀器放入試驗(yàn)箱(室)內(nèi)并通電,……改為將經(jīng)預(yù)處理的儀器,在不通電……。
---將原GB/T11606.5中試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間由原來(lái)的2h、4h、8h改為1h、2h、3h。
---將原GB/T11606.6中3.14電阻率改為電導(dǎo)率,原電阻率在電導(dǎo)率后加括號(hào);增加了儀器不應(yīng)受到來(lái)自試驗(yàn)箱(室)內(nèi)加熱元件的直接輻射及對(duì)試驗(yàn)箱(室)容積的要求。
---在原GB/T11606.7中增加3.1.2、3.1.3、3.1.4的內(nèi)容;刪除原3.1.6內(nèi)容,增加儀器不應(yīng)受到來(lái)自試驗(yàn)箱(室)內(nèi)加熱元件的直接輻射的內(nèi)容;增加了對(duì)恢復(fù)時(shí)間的規(guī)定,一般為12h(或24h)以上。
---在原GB/T11606.8中增加了對(duì)試驗(yàn)設(shè)備的要求。
---將原GB/T11606.9中磁場(chǎng)強(qiáng)度改為磁場(chǎng)強(qiáng)度要求。
---原GB/T11606.10中2.2內(nèi)容改用表表示,將括號(hào)內(nèi)mmHg改為mbar,并增加了海拔高度;增加預(yù)處理?xiàng)l款;修改條件試驗(yàn)中儀器啟動(dòng)時(shí)間,改在氣壓達(dá)到規(guī)定值后啟動(dòng);增加氣壓變化試驗(yàn)方法。
---調(diào)整了原GB/T11606.11中第2章試驗(yàn)條件,將3種條件按程序排列;試驗(yàn)用沙塵除Lc與原標(biāo)準(zhǔn)材料相同,但比例有差異外,其余均作了修改。3種沙塵試驗(yàn)的溫度和相對(duì)濕度一致,修改了Lc的溫度、濕度,溫度由原來(lái)55℃±2℃改為15℃~35℃,相對(duì)濕度小于50%改為45%~75%;試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間僅對(duì)Lb作了調(diào)整,分為6h、12h、24h3擋;對(duì)試驗(yàn)箱(室)的要求,根據(jù)3種不同的試驗(yàn)提出不同的條件。
---在原GB/T11606.12的范圍中增加了適用于評(píng)定零、部件在霉菌生長(zhǎng)條件下的長(zhǎng)霉程度;增加了宛氏擬青梅和繩狀青梅兩菌種;在試驗(yàn)程序中增加了小試樣的試驗(yàn)和檢查;取消4.3.4有關(guān)試樣規(guī)定和長(zhǎng)霉等級(jí)評(píng)定的規(guī)定;取消附錄A 培養(yǎng)霉菌用的各種培養(yǎng)劑。
---在原GB/T11606.13的范圍中增加適用部分;將鹽溶液改為試驗(yàn)溶液;增加預(yù)處理;考慮到對(duì)儀器做試驗(yàn),在恢復(fù)中增加了按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的其他恢復(fù)條件和恢復(fù)時(shí)間的內(nèi)容。
---在原GB/T11606.14~11606.15中增加了對(duì)試驗(yàn)設(shè)備要求內(nèi)容;在預(yù)處理中增加了對(duì)初始檢測(cè)的要求;修改了恢復(fù)條件,明確了待溫度穩(wěn)定后將包裝件取出,在正常環(huán)境條件下恢復(fù)24h以上。
---對(duì)原GB/T11606.16中表1作了修改,條件已包括其內(nèi),原3.2.2 取消;增加初始檢測(cè)和傾斜跌落次數(shù);增加條件試驗(yàn)和相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)給出的信息。
---對(duì)原GB/T11606.17中試驗(yàn)等級(jí)改為嚴(yán)酷等級(jí)。
本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)工業(yè)過(guò)程測(cè)量和控制標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)分析儀器分技術(shù)委員會(huì)歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:北京分析儀器研究所、北京北分瑞利分析儀器(集團(tuán))有限責(zé)任公司、上海精密科學(xué)儀器有限公司分析儀器總廠、上海精密科學(xué)儀器有限公司雷磁儀器廠、重慶川儀九廠、南京分析儀器廠有限公司、成都儀器廠。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:張心怡、馬雅娟、劉沛華、張海波、王巧梅、胡體寶、鄭文萍、余永惠。
本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:
---GB/T11606.1~11606.17-1989。 |
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